[发明专利]三坐标测量机有效

专利信息
申请号: 201010002203.6 申请日: 2010-01-06
公开(公告)号: CN101769704A 公开(公告)日: 2010-07-07
发明(设计)人: 中川英幸;石川修弘 申请(专利权)人: 株式会社三丰
主分类号: G01B5/008 分类号: G01B5/008;G01B5/20
代理公司: 北京林达刘知识产权代理事务所 11277 代理人: 刘新宇;陈立航
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 坐标 测量
【权利要求书】:

1.一种三坐标测量机,具备:测头,其构成为能够在一定 的范围内移动,具有与被测量物相接触的测量触头;移动机构, 其保持并且移动上述测头;以及控制装置,其控制上述移动机 构,该三坐标测量机在将上述测头推压到上述被测量物的状态 下通过使上述测量触头沿着上述被测量物的表面移动来测量上 述被测量物,该三坐标测量机的特征在于,

上述控制装置具备:

移动量获取部,其获取上述移动机构的移动量以及上述测 头的移动量;

校正参数算出部,其算出用于对由上述移动量获取部所获 取的上述测头的移动量进行校正的校正参数;

校正部,其根据上述校正参数对由上述移动量获取部所获 取的上述测头的移动量进行校正;以及

移动量合成部,其通过对上述移动机构的移动量和由上述 校正部校正后的上述测头的移动量进行合成来算出上述测量触 头的位置,

其中,上述校正参数算出部根据上述测头的推压量以及测 量方向来算出上述校正参数,

上述校正参数算出部根据用于通过上述移动机构移动上述 测头的位置指令值来检测上述测量方向,

上述测量方向是指分割上述测头的移动路径并以圆弧来近 似分割所述测头的移动路径的情况下的旋转方向。

2.根据权利要求1所述的三坐标测量机,其特征在于,

上述校正参数算出部算出三个上述校正参数,该三个上述 校正参数用于分别在正交坐标系的三个平面内校正上述测头的 移动量,

上述校正部在利用各上述校正参数分别校正各上述平面内 的上述测头的移动量之后,将校正后的上述测头的移动量按每 个轴方向的成分进行合成,由此校正上述测头的移动量。

3.根据权利要求2所述的三坐标测量机,其特征在于,

各上述校正参数被设为以与上述测头的移动量有关的多项 式来近似校正后的上述测头的移动量时的系数。

4.根据权利要求2所述的三坐标测量机,其特征在于,

各上述校正参数被设为以与上述测头的移动量有关的圆的 式子来近似校正后的上述测头的移动量时的系数。

5.根据权利要求2所述的三坐标测量机,其特征在于,

一个或者两个上述校正参数被设为以与上述测头的移动量 有关的多项式来近似校正后的上述测头的移动量时的系数,其 它的上述校正参数被设为以与上述测头的移动量有关的圆的式 子来近似校正后的上述测头的移动量时的系数。

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