[发明专利]光学透镜的聚光效率检测装置及其方法无效

专利信息
申请号: 201010002966.0 申请日: 2010-01-15
公开(公告)号: CN102128714A 公开(公告)日: 2011-07-20
发明(设计)人: 李森田;曾衍彰;许晋维;郑忠杰;陈昆峣;邓元为 申请(专利权)人: 华旭环能股份有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G02B27/00
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 郑小军;冯志云
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要:
搜索关键词: 光学 透镜 聚光 效率 检测 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.一种光学透镜的聚光效率检测装置,至少包含:

一光源,用以提供一入射光束;

一分光器,用以接收该入射光束,并将该入射光束分光为一监测光束及一探测光束;

一双轴移动平台,用以放置一待测的光学透镜,并控制该光学透镜的平移位置;

一扩束器,设置于该分光器及该双轴移动平台间;

一孔径光栏,设置于该扩束器及该双轴移动平台间;

一第一光感测器,用以接收该探测光束并测量该探测光束的光强度信号,其中该探测光束由该分光器经该扩束器及该孔径光栏,再穿透该双轴移动平台上的该光学透镜而至该第一光感测器;

一第二光感测器,用以接收该监测光束并测量该监测光束的光强度信号;以及

一处理器,连接该第二光感测器、该第一光感测器及该双轴移动平台,用以接收该监测光束的光强度信号、该探测光束的光强度信号及该光学透镜的平移位置,并输出该光学透镜的二维空间各点和/或平均的聚光效率。

2.如权利要求1所述的光学透镜的聚光效率检测装置,其中该光源为一激光光源。

3.如权利要求2所述的光学透镜的聚光效率检测装置,其中该激光光源为一氦氖激光光源。

4.如权利要求1所述的光学透镜的聚光效率检测装置,其中该双轴移动平台为一X轴-Y轴扫描器。

5.如权利要求1所述的光学透镜的聚光效率检测装置,其中该第一光感测器及该第二光感测器均为一光功率计。

6.如权利要求1所述的光学透镜的聚光效率检测装置,其中该探测光束的光强度信号包含背景环境光强度、全穿透光强度以及单位面积光强度。

7.如权利要求6所述的光学透镜的聚光效率检测装置,其中该监测光束的光强度信号包含背景环境光强度、全穿透光强度以及单位面积光强度P2n。

8.如权利要求7所述的光学透镜的聚光效率检测装置,其中该光学透镜的聚光效率依方程式

取得。

9.如权利要求8所述的光学透镜的聚光效率检测装置,其中该处理器还输出一二维空间聚光效率关系图。

10.一种光学透镜的聚光效率检测装置,至少包含:

一光源,用以提供一入射光束;

一分光器,用以接收该入射光束,并将该入射光束分光为一监测光束及一探测光束;

一双轴移动平台,用以放置一待测的光学透镜,并控制该光学透镜的平移位置;

一第一光感测器,用以接收该探测光束并测量该探测光束的光强度信号,其中该探测光束由该分光器穿透该双轴移动平台上的该光学透镜而至该第一光感测器;

一第二光感测器,用以接收该监测光束并测量该监测光束的光强度信号;以及

一处理器,连接该第二光感测器、该第一光感测器及该双轴移动平台,用以接收该监测光束的光强度信号、该探测光束的光强度信号及该光学透镜的平移位置,并输出该光学透镜的二维空间各点和/或平均的聚光效率。

11.如权利要求10所述的光学透镜的聚光效率检测装置,还包括:

一扩束器,设置于该分光器及该双轴移动平台间;以及

一孔径光栏,设置于该扩束器及该双轴移动平台间;

其中,该探测光束由该分光器经该扩束器及该孔径光栏,再穿透该双轴移动平台上的该光学透镜而至该第一光感测器。

12.一种光学透镜的聚光效率检测方法,至少包含步骤:

(a)提供一入射光束;

(b)分光该入射光束,以分别产生一监测光束及一探测光束;

(c)接收该监测光束并测量该监测光束的光强度信号;

(d)扩束该探测光束,并使该探测光束再穿透一孔径光栏;

(e)移动一待测的光学透镜,使该探测光束通过该光学透镜而聚光,同时记录该光学透镜的平移位置;

(f)接收该探测光束并测量该探测光束的光强度信号;以及

(g)依该监测光束的光强度信号、该探测光束的光强度信号及该光学透镜的平移位置,计算并输出该光学透镜的二维空间各点和/或平均的聚光效率。

13.如权利要求12所述的光学透镜的聚光效率检测方法,其中该入射光束为一激光光束。

14.如权利要求13所述的光学透镜的聚光效率检测方法,其中该激光光束为一氦氖激光光束。

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