[发明专利]熔断器老化状态多因子检测系统及老化状态评估方法有效
申请号: | 201010003668.3 | 申请日: | 2010-01-04 |
公开(公告)号: | CN101776720A | 公开(公告)日: | 2010-07-14 |
发明(设计)人: | 石颉;施海宁;姚建林;金心明;李建文;涂丰盛 | 申请(专利权)人: | 苏州热工研究院有限公司;中国广东核电集团有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 | 代理人: | 孙仿卫 |
地址: | 215004江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 熔断器 老化 状态 因子 检测 系统 评估 方法 | ||
1.一种熔断器老化状态多因子检测系统,其特征在于:它包括,
可调恒流源(1),用于与待测熔断器相串联,为不同容量等级的待测熔断器提供模拟电流;
可调恒温箱(2),内设有用于将待测熔断器安装在其中的测试板,所述的可调恒温箱(2)用于模拟待测熔断器现场运行工况;
温度采集装置(3),包括与待测熔断器相接触用于测量待测熔断器上多点温度的热电偶(31)、与热电偶(31)输出端相连接的多通道采集卡(32);
电阻测量仪(4),其用于定期或实时测量待测熔断器(10)在可调恒温箱(2)内的电阻数据;
PC机(5),所述的PC机(5)与多通道采集卡(32)的输出端相连接,其实时接收多通道采集卡(32)采集的温度数据并进行待测熔断器温升特性分析,同时结合电阻测量仪(4)传输的电阻数据对待测熔断器是否老化进行判断。
2.根据权利要求1所述的熔断器老化状态多因子检测系统,其特征在于:它还包括输出端与PC机(5)相连接的红外测温装置(6),所述的红外测温装置(6)用于直观地检测待测熔断器上的温度分布并进行热点定位。
3.根据权利要求2所述的熔断器老化状态多因子检测系统,其特征在于:所述的红外测温装置(6)为红外热像仪。
4.根据权利要求1或2所述的熔断器老化状态多因子检测系统,其特征在于:它还包括熔断器外观检测装置(7),所述的外观检测装置(7)包括用于判断待测熔断器的形状与尺寸是否发生变化从而初步判断待测熔断器是否老化的照相机和称重台。
5.根据权利要求4所述的熔断器老化状态多因子检测系统,其特征在于:所述的PC机(5)分别与所述的可调恒流源(1)及可调恒温箱(2)相控制连接,在测量过程中,所述的PC机(5)对测得的数据进行处理,并以图表方式显示。
6.根据权利要求5所述的熔断器老化状态多因子检测系统,其特征在于:所述的图表方式为电流-时间-温度曲线。
7.根据权利要求4所述的熔断器老化状态多因子检测系统,其特征在于:所述的PC机(5)设置有人机交互界面,在根据不同待测熔断器及不同现场运行工况进行相应地设定后,熔断器老化状态多因子检测系统对待测熔断器状态进行自动检测。
8.一种采用权利要求1所述的熔断器老化状态多因子检测系统进行熔断器多因子老化状态评估的方法,其特征在于:它包括
采用熔断器老化状态多因子检测系统对待测熔断器的温升特性、电阻特性进行检测以判断待测熔断器当前状态的步骤;
采用X-射线仪对待测熔断器的熔丝进行透视检测步骤;
采用电子扫描显微镜SEM对待测熔断器进行开封处理以进行微观检测步骤;
将采用熔断器老化状态多因子检测系统检测的结果与X-射线仪检测结果和SEM检测结果进行综合判断,以实现对待测熔断器的老化状态进行评估。
9.根据权利要求8所述的熔断器多因子老化状态评估的方法,其特征在于:还包括采用熔断器老化状态多因子检测系统对待测熔断器外观进行检测以及对待测熔断器进行热点定位。
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