[发明专利]三维测量装置有效
申请号: | 201010003942.7 | 申请日: | 2010-01-13 |
公开(公告)号: | CN101782375A | 公开(公告)日: | 2010-07-21 |
发明(设计)人: | 梅村信行;石垣裕之 | 申请(专利权)人: | CKD株式会社 |
主分类号: | G01B11/25 | 分类号: | G01B11/25;G01B11/02 |
代理公司: | 北京三幸商标专利事务所 11216 | 代理人: | 刘激扬 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 三维 测量 装置 | ||
1.一种三维测量装置,其包括:
照射机构,该照射机构可至少对被测量物,切换而照射具有 条纹状的光强度分布,并且周期不同的多个光图案;
摄像机构,该摄像机构具有可对来自照射上述光图案的上述 被测量物的反射光进行摄像的摄像器件;
位移机构,该位移机构使上述摄像器件和上述被测量物的位 置关系发生相对位移;
图像处理机构,该图像处理机构根据通过上述成像机构摄制 的图像数据,进行三维测量;
其特征在于上述图像处理机构包括:
第1运算机构,该第1运算机构根据在第1位置照射相位多 次变化的第1周期的第1光图案而获得的多个图像数据,通过相 位移法,将图像数据的各像素单位的高度数据作为第1高度数据 而计算;
第2运算机构,该第2运算机构根据多个图像数据,通过相 位移法,将图像数据的各像素单位的高度数据作为第2高度数据 而计算,上述多个图像数据为在相对上述第1位置,沿规定方向 按照半像素间距偏移的第2位置,多次改变长于第1周期的第2 周期的第2光图案的相位,进行照射而获得;
数据置换机构,该数据置换机构根据接近该第1高度数据的 周围的4个该第2高度数据的平均的最佳值,指定上述各第1高 度数据的条纹数量,并且将该第1高度数据的值置换为考虑了该 条纹数量的值。
2.根据权利要求1所述的三维测量装置,其特征在于上述第2 位置为相对上述第1位置,按照半像素间距倾斜偏移的位置。
3.根据权利要求2所述的三维测量装置,其特征在于其包括内 插机构,该内插机构根据其周围的至少考虑了上述条纹数量的第1 高度数据,对数据的缺失部分进行内插处理。
4.根据权利要求1~3中的任何一项所述的三维测量装置,其 特征在于其包括补偿机构,该补偿机构根据考虑了上述条纹数量 的第1高度数据,对上述第2高度数据的值进行补偿处理;
上述补偿机构:
判断通过上述第2运算机构计算的规定位置的第2高度数据 的值是否在该规定位置的周边部位的考虑了上述条纹数量的第1 高度数据的平均值的规定的误差范围内;
在位于规定的误差范围内的场合,将考虑了上述条纹数量的 第1高度数据的平均值用作上述规定位置的第2高度数据的值;
在不位于规定的误差范围内的场合,将通过上述第2运算机 构计算的第2高度数据的值用作上述规定位置的第2高度数据。
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