[发明专利]三维测量装置有效

专利信息
申请号: 201010003942.7 申请日: 2010-01-13
公开(公告)号: CN101782375A 公开(公告)日: 2010-07-21
发明(设计)人: 梅村信行;石垣裕之 申请(专利权)人: CKD株式会社
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25;G01B11/02
代理公司: 北京三幸商标专利事务所 11216 代理人: 刘激扬
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 三维 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种三维测量装置,其包括:

照射机构,该照射机构可至少对被测量物,切换而照射具有 条纹状的光强度分布,并且周期不同的多个光图案;

摄像机构,该摄像机构具有可对来自照射上述光图案的上述 被测量物的反射光进行摄像的摄像器件;

位移机构,该位移机构使上述摄像器件和上述被测量物的位 置关系发生相对位移;

图像处理机构,该图像处理机构根据通过上述成像机构摄制 的图像数据,进行三维测量;

其特征在于上述图像处理机构包括:

第1运算机构,该第1运算机构根据在第1位置照射相位多 次变化的第1周期的第1光图案而获得的多个图像数据,通过相 位移法,将图像数据的各像素单位的高度数据作为第1高度数据 而计算;

第2运算机构,该第2运算机构根据多个图像数据,通过相 位移法,将图像数据的各像素单位的高度数据作为第2高度数据 而计算,上述多个图像数据为在相对上述第1位置,沿规定方向 按照半像素间距偏移的第2位置,多次改变长于第1周期的第2 周期的第2光图案的相位,进行照射而获得;

数据置换机构,该数据置换机构根据接近该第1高度数据的 周围的4个该第2高度数据的平均的最佳值,指定上述各第1高 度数据的条纹数量,并且将该第1高度数据的值置换为考虑了该 条纹数量的值。

2.根据权利要求1所述的三维测量装置,其特征在于上述第2 位置为相对上述第1位置,按照半像素间距倾斜偏移的位置。

3.根据权利要求2所述的三维测量装置,其特征在于其包括内 插机构,该内插机构根据其周围的至少考虑了上述条纹数量的第1 高度数据,对数据的缺失部分进行内插处理。

4.根据权利要求1~3中的任何一项所述的三维测量装置,其 特征在于其包括补偿机构,该补偿机构根据考虑了上述条纹数量 的第1高度数据,对上述第2高度数据的值进行补偿处理;

上述补偿机构:

判断通过上述第2运算机构计算的规定位置的第2高度数据 的值是否在该规定位置的周边部位的考虑了上述条纹数量的第1 高度数据的平均值的规定的误差范围内;

在位于规定的误差范围内的场合,将考虑了上述条纹数量的 第1高度数据的平均值用作上述规定位置的第2高度数据的值;

在不位于规定的误差范围内的场合,将通过上述第2运算机 构计算的第2高度数据的值用作上述规定位置的第2高度数据。

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