[发明专利]触摸面板和使用触摸面板的坐标检测方法有效

专利信息
申请号: 201010005409.4 申请日: 2010-01-19
公开(公告)号: CN101782828A 公开(公告)日: 2010-07-21
发明(设计)人: 中岛孝;清水信吉;近藤幸一;羽山正伸;远藤孝夫 申请(专利权)人: 富士通电子零件有限公司
主分类号: G06F3/045 分类号: G06F3/045
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 敦放
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 触摸 面板 使用 坐标 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种触摸面板,包括:

形成于绝缘材料的衬底上的透明导电材料的下导电膜;

放置于所述下导电膜的四个边的边缘部分中以在所述下导电膜 中产生电位分布的四个电极;以及

放置于所述下导电膜之上的透明导电材料的上导电膜,使得所述 上导电膜和所述下导电膜彼此相对以在所述上导电膜与所述下导电 膜相接触时检测所述下导电膜中的电位,

其中,所述上导电膜包括不包含透明导电材料的多个分割部分和 包含所述透明导电材料的多个分割导电部分,

所述触摸面板被配置为在所述上导电膜和所述下导电膜在接触 点处相互接触时检测所述多个分割导电部分中的每个所述接触点的 电位,从而基于所检测的电位来检测各个接触点的坐标,并且

其中,所述多个分割部分的每一个都通过去除上导电膜而形成, 不包含透明导电材料,并且具有等于或小于1mm的宽度,并且所述 多个分割导电部分相互以每个分割部分的宽度隔开,并且

其中,当接触点指示跨过任何分割部分的移动时,基于区域检测 过程的结果来检测接触点的移动方向。

2.根据权利要求1所述的触摸面板,其中,所述上导电膜具有 矩形形状并且被通过去除所述上导电膜而形成的且不包含透明导电 材料的所述多个分割部分划分成四个分割导电部分。

3.根据权利要求2所述的触摸面板,其中,所述多个分割部分 是沿着所述上导电膜的对角线或者沿着与所述上导电膜的四个边平 行的线而形成的,并且所述上导电膜被所述多个分割部分划分成四个 分割导电部分。

4.根据权利要求1所述的触摸面板,其中,所述多个分割部分 被形成为在所述上导电膜的中心位置处相互相交。

5.根据权利要求1所述的触摸面板,其中,所述上导电膜包括 位于所述上导电膜的中心位置处的分割部分,所述分割部分是通过去 除所述上导电膜而形成的。

6.根据权利要求1所述的触摸面板,其中,所述上导电膜包括 位于所述上导电膜的中心位置处的中心导电部分。

7.根据权利要求6所述的触摸面板,其中,位于所述上导电膜 的中心位置处的所述中心导电部分被形成为具有从所述中心导电部 分延伸到所述上导电膜的端部的引线导电部分。

8.根据权利要求7所述的触摸面板,其中,在所述引线导电部 分上配置有绝缘层。

9.根据权利要求1所述的触摸面板,其中,所述多个分割部分 的每一个都具有梳状形状或者锯齿状形状。

10.根据权利要求1所述的触摸面板,其中,所述下导电膜由光 无法穿过的不透明导电材料而非透明导电材料制成。

11.根据权利要求1所述的触摸面板,其中,所述上导电膜由光 无法穿过的不透明导电材料而非透明导电材料制成。

12.根据权利要求1所述的触摸面板,其中所述上导电膜和所述 下导电膜都由光无法穿过的不透明导电材料而非透明导电材料制成。

13.一种坐标检测方法,包括以下步骤:

提供触摸面板,所述触摸面板包括形成于绝缘材料的衬底上的透 明导电材料的下导电膜、放置于所述下导电膜的四个边的边缘部分中 以在所述下导电膜中产生电位分布的四个电极、以及放置于所述下导 电膜之上的透明导电材料的上导电膜,使得所述上导电膜和所述下导 电膜彼此相对,所述上导电膜包括不包含透明导电材料的分割部分和 包含所述透明导电材料的分割导电部分;

当所述上导电膜和所述下导电膜在接触点处相互接触时检测所 述分割导电部分中的每个接触点的电位;以及

基于所检测的电位来检测接触点的各自的坐标,其中

所述多个分割部分的每一个都通过去除上导电膜而形成,不包含 透明导电材料,并且具有等于或小于1mm的宽度,并且所述多个分 割导电部分相互以每个分割部分的宽度隔开,并且

其中,当接触点指示跨过任何分割部分的移动时,基于区域检测 过程的结果来检测接触点的移动方向。

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