[发明专利]一种对复杂控制类芯片的随机测试方法

权利要求书

1.一种对复杂控制类芯片的随机测试方法，其特征在于充分考虑影响随机数据或者事务的因素，采用固定约束条件、完全随机以及定向随机相结合的方法，配置事务生成文件的约束条件，实现对复杂控制类芯片——即带随机约束的芯片的测试验证；需要考虑的因素和需要实现的配置包括：复杂控制类芯片的网络结构、影响产生随机事务的因素、测试平台结构、事务随机生成文件、初始化随机生成文件、网络传输延时随机生成文件。

2.根据权利要求1所述的一种对复杂控制类芯片的随机测试方法，其特征在于复杂控制类芯片的网络结构，采用多节点配置的方式，使其能够覆盖到芯片的各项协议功能。

3.根据权利要求1所述的一种对复杂控制类芯片的随机测试方法，其特征在于影响产生随机事务的因素包括：测试平台、测试事务、初始化条件、网络延时以及冲突错误发生条件。

4.根据权利要求1所述的一种对复杂控制类芯片的随机测试方法，其特征在于测试平台结构，自动加载多组随机产生的测试事务，并且对测试结果进行分析，对覆盖率进行统计。

5.根据权利要求1所述的一种对复杂控制类芯片的随机测试方法，其特征在于事务随机生成文件从复杂控制类芯片功能考虑，完全随机或者定向随机产生一组或者多组随机事物序列。

6.根据权利要求1所述的一种对复杂控制类芯片的随机测试方法，其特征在于初始化随机生成文件，完全随机生成复杂控制类芯片初始化的所有参数条件。

7.根据权利要求1所述的一种对复杂控制类芯片的随机测试方法，其特征在于网络延时程序产生随机事务激励的网络传输延时随机生成文件，网络传输延时随机生成文件完全随机或者定向随机产生复杂控制类芯片网络结构中各信道的延时，网络延时程序采用信道枚举传输路径的方法。