[发明专利]一种电子电荷与自旋双极输运的透射光栅调制泵浦-探测光谱测试方法有效
申请号: | 201010019309.7 | 申请日: | 2010-01-12 |
公开(公告)号: | CN101793677A | 公开(公告)日: | 2010-08-04 |
发明(设计)人: | 赖天树;张秀敏;陈科;陈达鑫 | 申请(专利权)人: | 中山大学 |
主分类号: | G01N21/21 | 分类号: | G01N21/21 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 510275 *** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 电子 电荷 自旋 输运 透射 光栅 调制 探测 光谱 测试 方法 | ||
1.一种透射光栅调制的泵浦-探测饱和吸收光谱测试方法,其特点是在样品前使用黑缝 不透光、白缝透光,黑缝宽度大于白缝宽度的黑白透射光栅调制泵浦光,泵浦光斑的强度分 布变成周期亮暗分布的,因而在样品中激发起浓度呈方波形周期分布的电子瞬态光栅,代替 传统的双光束干涉形成的光栅,实现了电子浓度光栅的简单注入;使用探测光的饱和吸收变 化代替传统的光栅衍射信号强度变化测量瞬态电子浓度光栅的衰减动力学,实现了电子浓度 光栅的高灵敏度探测;本发明的特征在于当泵浦和探测光均为线偏振光时,测试探测光的饱 和吸收衰减动力学曲线,并用公式(1)拟合该曲线,能够获得电子电荷的双极扩散常数;
式中A为拟合参数,τ为无透射光栅时电子或自旋极化电子的复合时间常数,为拟合参数;a 为透射光栅中透射缝宽度,Λ为光栅周期,t为泵浦-探测脉冲间的延迟时间,为自变量;D为 双极扩散常数,作为拟合参数。
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