[发明专利]变压器线圈变形程度介容测试法

说明书

技术领域

本发明涉及电器结构部件的测试技术领域，特别是一种应用于电力系统判断高电压等级的变压器线圈变形程度介容测试法。

背景技术

目前，国内电力系统诊断变压器线圈变形程度的测试方法主要有频率响应法和低电压短路阻抗法。这两种方法在判断变压器线圈变形程度时，易受现场接线方式干扰和不能准确判断线圈变形位置，因此有一定的局限性。

为了准确判断变压器线圈变形程度，采用一种新的测试方法——介容法。介容法是通过测量变压器线圈介质损耗和电容量的变化，进行判断变压器绕组变形程度的新方法。变压器线圈性状的改变，其电感、电容、电阻等分布参数也将发生改变。介容法是根据变压器线圈整体及高、中、低相与相间介质损和电容量变化的大小，判断线圈变形程度和线圈变形的位置。

发明内容

本发明的目的是提供一种变压器线圈变形程度介容测试法，是通过测量变压器线圈介质损耗和/或电容量的变化，以判断变压器绕组变形程度，利用该方法即通过整体介容法或相间介容法，或通过二者间的相互补充和印证，可以较准确地判断变压器线圈的变形程度，及时准确地判断和进行变压器运行状态的监视和检修，保证变压器的正常安全运行，有利于提高变压器的工作质量和效率。特别适用用于110kV及以上电压等级的变压器线圈的变形程度的测试。

本发明的技术方案是：一种变压器线圈变形程度介容测试法，其特征在于是通过测量变压器线圈介质损耗和/或电容量的变化，根据判断标准，进行判断变压器绕组变形程度的方法。

所述的变压器线圈变形程度介容测试法，其特征在于测量时，可以首先进行变压器高、中、低绕组之间及对地的介质损耗或电容量测量，然后将上述测量值与其初值即出厂值或交接值进行比较，根据判断标准，判断变压器哪一个电压等级绕组发生变形及其变形程度，称为整体介容法。

所述的变压器电容量测量可以是指：C1低压绕组对地的电容，C₂中、低压绕组之间的电容，C₃高、中压绕组之间的电容，C₄中压绕组对地的电容，C₅高压绕组对地的电容；C_H+M+L高、中、低压绕组对地的电容，C_H+M高、中压绕组对地的电容，C_H高压绕组对地的电容，C_M中压绕组对地的电容，C_L低压绕组对地的电容，测量的具体计算如下式1-5：

式1，C₁＝(C_H+M+L+C_L-C_H+M)/2

式2，C₂＝(C_L+C_H+M-C_H+M+L)/2

式3，C₃＝(C_M+C_H-C_H+M)/2

式4，C₄(C_H+M+L+C_M-C_L-C_H)/2

式5，C₅＝(C_H+C_H+M-C_M)/2

所述的将上述测量值与其初值即出厂值或交接值进行比较是指：当误差大于某一规定值时，即认为变压器存在变形，应加强运行中的监视；当误差大于另一规定值时，即认为变压器存在严重变形，应或，应采取有效措施加强运行中的监视，应在现场解体或返厂进行检查。

所述的整体介容法判断标准是：当计算的各高、中、低绕组间及分别对地的电容量与初值即出厂值或交接值误差在±3-6％之间时，变压器存在变形，应加强运行中的监视；当误差大于±7％时，变压器存在严重变形，应返厂检修。

所述的变压器线圈变形程度介容测试法，其特征在于测量时，也可以首先进行高、中、低绕组每相间的介质损耗和电容量的测量，然后将上述介质损耗和电容量的测量值进行相间比较，即将上述测量值进行横向比较，根据判断标准，判断变压器哪一相绕组变形的程度，称为相间介容法。

相间介容法所述的介质损耗和电容量的测量是，分别测量高压绕组A、B、C对中压绕组Am、Bm、Cm，中压绕组Am、Bm、Cm对低压绕组a、b、c，低压绕组对铁芯的介质损耗和电容量；