[发明专利]一种荧光材料激发测量装置

权利要求书

1.一种荧光材料激发测量装置，其特征在于，包括暗箱(1)，在暗箱(1)内设置激发光源(2)、 放置被测荧光材料的工作试样盘(4)、发射光接收装置(6)和可调光阑(10)；所述的激发光源 (2)位于以所述的工作试样盘(4)的中心为顶点、与工作试样盘(4)的中心轴线(3)成45度 夹角的空间方向所形成的锥面(11)上，且激发光源(2)为一个环形光源或多个光源组成； 所述的发射光接收装置(6)位于工作试样盘(4)的中心轴线(3)上，且面对被测荧光材料；激 发光源(2)发出的激发光均匀分布在工作试样盘(4)内，在激发光源(2)与工作试样盘(4)之间 的光路上设置用于调节入射到工作试样盘(4)表面的激发光的辐射照度和／或辐射光谱的可调 光阑(10)，所述的可调光阑(10)由定光阑(10-1)和动光阑(10-2)组成，通过调节定光阑(10-1) 和动光阑(10-2)之间相重叠的面积改变穿过可调光阑(10)的光通量；在工作试样盘(4)中心轴 线(3)上同轴设置遮光筒(5)，遮光筒(5)上方安装发射光接收装置(6)。

2.根据权利要求1所述的荧光材料激发测量装置，其特征在于，在暗箱(1)内装有可水 平旋转的托盘(7)，所述的工作试样盘(4)安装在托盘(7)上，在托盘(7)上还安装有监测激发 光的辐射照度的监测探测器(8)。

3.根据权利要求2所述的荧光材料激发测量装置，其特征在于，所述的托盘(7)是由手 动调节旋转或者是由电机驱动旋转的。

4.根据权利要求2所述的荧光材料激发测量装置，其特征在于，所述的托盘(7)是由带 减速器的电机驱动旋转的。

5.根据权利要求1或2所述的荧光材料激发测量装置，其特征在于，发射光接收装置(5) 是光度或辐射度探测器、色度探测器或者是连接光谱仪的光学采样装置。

6.根据权利要求1或2所述的荧光材料激发测量装置，其特征在于，在激发光源(2)到 工作试样盘(4)之间的光路上设置滤色片(9)。

7.根据权利要求1或2所述的荧光材料激发测量装置，其特征在于，所述的激发光源(2) 是环管荧光灯或沿环形位置布置的LED灯，或是环管荧光灯和LED灯的组合。