[发明专利]一种连续光激光粒子分析仪

权利要求书

1.一种连续光激光粒子分析仪，其特征在于采用的激光是连续激光，并且所述连续光激光粒子分析仪可采用交直两种电源供电，供电系统同时设计有保护电路。

2.根据权利要求1所述的连续光激光粒子分析仪，其特征在于所述连续光激光粒子分析仪的光探测器设计有高精度温度控制系统。

3.根据权利要求1所述的连续光激光粒子分析仪，其特征在于所述连续光激光粒子分析仪采用了并行处理电路系统。

4.根据权利要求1所述的连续光激光粒子分析仪，其特征在于所述连续光激光粒子分析仪采用的并行处理电路系统产生一个门控信号同步分析粒径和荧光强度信号。

5.根据权利要求4所述的连续光激光粒子分析仪，其特征在于所述连续光激光粒子分析仪激发散射光和荧光信号共用一套光路系统。

6.根据权利要求1所述的连续光激光粒子分析仪，其特征在于所述连续光激光粒子分析仪的光路系统中气溶胶粒子与连续激光相互作用产生散射光的同时激发出生物荧光，并同时由双椭球镜分别收集到散射光探测器和荧光探测器上。

7.根据权利要求1所述的连续光激光粒子分析仪，其特征在于连续激光器发出的连续激光光束经整形光路扩展为扁椭圆形光斑，气溶胶粒子在探测区的椭球镜焦点处与激光相互作用产生散射，散射光由椭球镜收集会聚在椭球镜的一个焦点位置的散射光探测器上进行探测，气溶胶粒子在探测区与激光相互作用产生散射的同时也激发出荧光，激发荧光由椭球镜收集会聚在椭球镜的另一个焦点上，并由整形滤波光路将荧光整形为近平行光束后再经过滤光光路滤除背景光的干扰，经过滤光后荧光由荧光探测器探测。

8.根据权利要求4或5所述的连续光激光粒子分析仪，其特征在于，散射光和荧光通过散射光和荧光共用光路分别进入到散射信号处理通道和荧光信号处理通道中，门信号电路产生的门信号同步控制散射信号处理通道和荧光信号处理通道并行工作。