[发明专利]密度孔隙度和中子孔隙度差值储层流体类型判别方法有效
申请号: | 201010102239.1 | 申请日: | 2010-01-28 |
公开(公告)号: | CN101832133A | 公开(公告)日: | 2010-09-15 |
发明(设计)人: | 郑淑芬;费怀义;吴大奎;高俊华;刘晓鹏;陈杰;王君;彭湃;李兆影;陈虹 | 申请(专利权)人: | 中国石油集团川庆钻探工程有限公司 |
主分类号: | E21B49/08 | 分类号: | E21B49/08 |
代理公司: | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 | 代理人: | 冉鹏程 |
地址: | 610051 四川省成都市成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 密度 孔隙 中子 差值 流体 类型 判别 方法 | ||
技术领域
本发明涉及石油天然气测井、地质和岩心试验分析技术领域,确切地说涉及一种利用密度孔隙度和中子孔隙度差值进行储层流体类型判别的方法。
背景技术
储层流体类型判别是天然气勘探开发的关键技术之一。利用天然气和地层水对密度和中子资料的影响不同是判别储层流体类型常用方法之一。
密度孔隙度—中子孔隙度差值流体类型判别法属于天然气勘探开发领域中的科研方法创新,主要是利用测井资料,结合地质资料和岩心实验数据,研究天然气、地层水对密度和中子资料的不同影响特征,最终建立天然气、地层水的密度、中子影响差异关系,并把这种差异数值法,从而快速、准确识别气层和水层,为天然气开发提供测试层位,进而指导气田勘探开发。
地层含气时,中子测井资料受天然气“挖掘效应”影响会变小,密度受天然气影响增大,在测井综合图上,气层段密度曲线和中子曲线呈“大肚子”状分离趋势。地层含水时,密度资料影响不大,中子孔隙度不变或略增大,水层段呈现密度和中子测井值变化趋势基本一致特征。据此,可以判别气层和水层。但目前,由于当孔隙度大时,中子测井值相对较大,同时岩性、井眼条件、泥浆浸入等因素对密度和中子资料影响较大,因而直接利用曲线形态判别储层流体类型符合率不高,经统计,储层流体类型判别符合率通常只能达到70%左右,给天然气开发生产带来很大困难。
发明内容
为解决上述技术问题,本发明提出了一种能提高流体类型判别符合率的密度孔隙度和中子孔隙度差值储层流体类型判别方法,本发明在利用密度、中子资料判别储层流体类型时排除了岩性、井眼条件、泥浆侵入等非流体影响因素,因而能真实地反映不同流体对密度和中子资料的影响特征,使储层流体类型判别符合率由现有的70%提高到了90%以上。
本发明是通过采用下述技术方案实现的:
一种密度孔隙度和中子孔隙度差值储层流体类型判别方法,其特征在于步骤包括:
1)通过岩心资料刻度测井、测井资料环境校正,准确计算储层泥质含量、岩石成份、密度孔隙度和中子孔隙度;
2)排除岩性、井径和泥浆侵入因素对密度和中子资料的影响;
3)利用密度和中子资料对天然气和地层水的响应差异,通过比较密度孔隙度与中子孔隙度的大小来建立储层流体类型判别标准,其中:
a、对于孔隙结构好的储层,流体类型判别标准为:
气层:PORD-PORN>0;
水层:PORD-PORN<0;
干层(或产量特别低的层):PORD-PORN≈0;
式中:PORD、PORN分别表示密度孔隙度(%)、中子孔隙度(%);
b、对于孔隙结构较差的储层,如低孔低渗低丰度的苏里格气田,流体类型判别标准为:
气层:PORD-PORN>2%;
水层:PORD-PORN<-2%;
气水层:-6%<PORD-PORN<6%;
式中:PORD、PORN分别表示密度孔隙度(%)、中子孔隙度(%)。
所述的岩心刻度测井主要包括两个方面:一方面是通过岩心分析资料刻度测井处理参数,如岩心X衍射分析资料刻度计算泥质含量的参数、岩电分析资料确定计算饱和度的参数;另一方面用岩心分析孔隙度、渗透率、和含水饱和度的结果检验测井岩性、孔隙度、渗透率和饱和度的解释方法并作调整,直到满足误差要求。
所述测井资料环境校正具体是指:根据实际测井情况和测井系列选用经典的理论图版和经验公式进行环境校正。
所述泥质含量计算具体为:泥质含量的计算需根据工区的粘土成份和性质,选用不同的测井资料计算:非泥质成分放射性低的地层用自然伽马直接计算,非泥质成分放射性高的地层选用不同的能谱资料计算泥质含量:如地层中非泥质成分的放射性以钍为主,就选钾曲线计算,非泥质成分的放射性以钾为主,就选钍曲线计算,长石含量高的地层用铀曲线计算,地层非泥质成分含有放射性,又无能谱资料时用中子、密度交会计算泥质含量。
所述岩石成份计算为:根据储层地质特征,建立符合工区实际情况的岩石成份、孔隙和流体的测井响应方程,计算矿物成分体积百分含量和孔隙度。
所述密度孔隙度计算为:用经泥质校正、环境校正后的密度资料计算密度孔隙度。
所述中子孔隙度计算为:用经泥质校正、环境校正后的中子资料计算中子孔隙度。
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