[发明专利]大尺寸玻璃基板的直角度快速测量方法及其测量仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种利用平面几何原理和直线位移传感器、单片机技术，通过测量玻璃两平行边的位移，来对大尺寸的矩形玻璃基板进行直角度测量的方法及其测量仪。

背景技术

目前对于测量大尺寸玻璃基板的直角度是一项比较麻烦的事情。对于平板类物体直角度的测量，基本方法大致可分两种：光学方法和机械方式。

1、光学方法：利用光的反射原理，由相对基准面固定的激光发射仪器发出直线光，光经发射仪器反射，测量仪器在被测面上移动以测量反射光在刻度仪上的读数变化，此变化值就是被测面相对基准面的直角度。

2、机械方法：首先以基准面固定产品，固定在测量平台(假象的理想垂直面)上的千分表表头在测量面上滑动，千分表的读数变化即为直角度。也可用塞尺测量测量平台和测量面的间隙大小确定直角度值。另外也可通过固定在测量平台不同位置的测量仪器不同测量值之差确定直角度。

以上所述测量方法测量的一般测量值精度在1μm左右，主要用来对于机械加工件的测量较多，而且测量费工费时，设备价钱也十分昂贵。在玻璃基板行业，对玻璃的平面度要求较严格，现在市面上很多公司生产专门测量平面度的设备。相对与玻璃的平面度，玻璃相邻边的直角度一般测量较少，或者普通用途的平板玻璃对玻璃相邻边的直角度并无非常严格的要求，一般平板玻璃切割设备的精度足以满足要求。但随着液晶玻璃、等离子玻璃的生产，对相邻边直角度的要求越来越高，急需一种方法以满足此项要求。

在传统的玻璃生产切割的直角度的检查方面主要使用比较法即使用具有规定精度的和玻璃尺寸相当的直角尺靠近比较，第一、由于玻璃基板尺寸大且薄，搬运困难，稍有不慎玻璃就会破碎。第二、将玻璃基板放到平台上面时玻璃表面会出现擦划伤，致使受检玻璃基板报废。第三、由于比较法操作麻烦稍不用心就会测量错误，致使错误的结果误导生产。最近市面上也出现了激光准直系统等高精度的测量设备但由于成本昂贵，不适用在玻璃基板检查领域。

发明内容

本发明的目的就在于提供一种利用平面几何原理和直线位移传感器、单片机技术，通过测量玻璃两平行边的位移，来对大尺寸的矩形玻璃基板进行直角度测量的方法及其测量仪，本发明可快速方便的测出玻璃相邻边的直角度是否在1/1000范围内，在大尺寸玻璃基板生产中此测量方法可以实现快速、高效和简单操作，方便快捷且成本较低，较好的适应了玻璃生产线流水化作业的要求。

为实现上述发明目的本发明的技术方案为：

大尺寸玻璃基板的直角度快速测量方法：

首先、测量时玻璃基板的一条边直接放在设置在底部的两个定位柱上，并使玻璃左侧边缘靠紧设置在左侧的定位柱，此时通过位移检测仪测得此边的位移数据d1(mm)，位移检测仪的基准点设置在左侧定位柱垂直上方1000mm处；

然后、将大尺寸玻璃翻转180°即将玻璃翻面，通过位移检测仪对第一次测量边的对应边进行测量，所测数值为d2(mm)，最后计算：(d2-d1)的绝对值的1/2即为大尺寸玻璃基板的直角度测量数据。

本发明大尺寸玻璃基板的直角度快速测量的测量仪，包括三角测量机架、装配在机架下的底座部件，设置在测量机架上的检测台，在检测台底部设置有两个平行的水平定位柱，在检测台左下侧设置有一个垂直定位柱，或者该垂直定位柱设置在检测台右下侧；与垂直定位柱位置相应在测量机架上方左侧或右侧设置有直线位移检测仪，检测仪的顶杆设置为距下方水平定位柱距离为900mm-1050mm；在检测台表面均匀设置有为减少玻璃基板与设备的接触面积的软质垫条，垫条的平整度一致性设置要高，在每条垫条上面贴设有一层防静电特氟龙单面胶带用来与玻璃基板接触。这种胶带除了防静电之外还有厚度均匀、低摩擦系数等优点，确保实现无损伤检测。

本发明大尺寸玻璃基板的直角度快速测量的测量仪，所述检测仪的顶杆设置为距下方水平定位柱距离为1000mm；在检测台上均匀设置有减重孔；在测量机架底部安装有可以调整机架高低和水平的调节螺钉支脚，使之适应不同的地面状况，另外还装有脚轮方便搬运以适应洁净间没有吊车的特殊装机环境；

本发明的测量原理是：如图1所示玻璃基板的两对应边由加工工艺保证相互平行，利用设备底部的两个定位柱的上母线及左侧定位柱侧母线作为基准，玻璃基板实现了准确定位。玻璃基板左侧面的被测部位压迫检测仪顶杆产生位移，如若玻璃基板底边与侧边不垂直，将玻璃基板翻转180°位移检测仪的读数值就会有所不同，其差值的1/2即为直角度测量数据。