[发明专利]测量对中装置有效

专利信息
申请号: 201010104315.2 申请日: 2010-01-25
公开(公告)号: CN101788292A 公开(公告)日: 2010-07-28
发明(设计)人: 习仲伟;赵国堂;徐万鹏;谷永磊;许传波;张玉军;刘宏;鲁科学;李安杰 申请(专利权)人: 中铁十五局集团有限公司
主分类号: G01C15/08 分类号: G01C15/08
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王晋琪
地址: 471013 河南省洛阳*** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 测量 装置
【权利要求书】:

1.测量对中装置,包括预埋件、转接装置,所述的转接装置一端与预埋件连接, 另一端与测量仪器连接,其特征是:所述的预埋件顶面(1)与埋设介质平齐,所述 的转接装置包括转接头(26)、转接盘(27)、转接杆(28),所述的转接头(26)、转 接盘(27)、转接杆(28)分别与预埋件和测量仪器连接。

2.根据权利要求1所述的测量对中装置,其特征是,所述的预埋件(1)由内刻 螺孔(2)的圆柱形螺母套筒(3),下部为金属杆同轴连接体(5)连接而成,所述的 圆柱形螺母套筒(3)外侧中间刻槽,所述金属杆同轴连接体(5)外侧轧花或对称刻 槽。

3.根据权利要求1所述的测量对中装置,其特征是,所述转接头(26)一端连 接测量设备和另一端连接预埋件,由转接头圆头螺栓(7)、转接头圆柱体(9)和转接 头下螺栓(11)组成,由耐腐蚀金属材料整体加工而成,所述的转接头圆头螺栓(7)、 转接头下螺栓(11)都刻制5/8-11UNEF-2A螺丝,所述的转接头圆头螺栓(7)的顶 部磨制成半球状,用于设立水准尺,顶端有用作普通测量的平面标志点的“十”字(6), 转接头圆柱体上表面(8)和转接头圆柱体下表面(10)平行且与旋转轴垂直。

4.根据权利要求1或2所述的测量对中装置,其特征是,所述的转接盘(27) 有转接盘上螺栓(14)和转接盘下螺栓(17),转接盘圆盘(15)的外缘均布转接盘 螺孔(25),每间隔1个转接盘螺孔(25)旋入转接盘调整螺栓(18),所述的转接盘 (27)由铝棒整体加工并进行阳极氧化处理,所述的转接盘上螺栓(14)和转接盘下 螺栓(17)刻制5/8-11UNEF-2A螺丝,所述的转接盘上螺栓(14)用于连接测量仪器 基座,所述的转接盘下螺栓(17)通过螺孔(2)连接预埋件。

5.根据权利要求1所述的测量对中装置,其特征是,所述的转接杆(28)自下 而上依次由同轴的转接杆下螺栓(23)、第二转接杆杆体(21)、第一转接杆杆体(20) 以及接口段(19)连接组成,第二转接杆杆体(21)的下表面(22)与杆体垂直,所 述转接杆(28)由不锈钢棒整体加工而成,用于连接反射棱镜或测量觇标。

6.根据权利要求4所述的测量对中装置,其特征是,所述的转接盘(27)有起 减轻重量作用的减重孔(24)。

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