[发明专利]一种自适应的DCT零系数提前检测方法无效
| 申请号： | 201010106470.8 | 申请日： | 2010-02-04 |
| 公开（公告）号： | CN102148977A | 公开（公告）日： | 2011-08-10 |
| 发明（设计）人： | 杨华岚 | 申请（专利权）人： | 成都市世嘉电子实业有限公司 |
| 主分类号： | H04N7/26 | 分类号： | H04N7/26;H04N7/50 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610041 *** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 自适应 dct 系数 提前 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种自适应的DCT零系数提前检测算法，其特征在于，包括如下步骤：
1)根据4x4残差块f(u，v)整形变换，确定量化系数F(x，y)Q。
2)定义判决值公式。
3)定义门限值公式。
4)确定总体检测法则。
5)确定全零系数宏块检测法则。
6)确定14零系数宏块检测法则。
2.如权利要求1所述的自适应的DCT零系数提前检测算法，其特征在于所述步骤2)中判决值公式及参数，如下：
其中qbits＝15+floor(QP/6)，函数floor(x)为向下取整。对于帧内宏块，f＝(2qbits)/3；对于帧间宏块，f＝(2qbits)/6。矩阵
其中qrem＝QP％6，r＝2-(x％2)-(y％2)。
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