[发明专利]一种热控涂层太阳吸收率的测量方法

权利要求书

1.一种热控涂层太阳吸收率的测量方法，其特征在于包括如下几个步 骤：

(1)将热控涂层均匀敷在可实时测量温度的薄金属试件板上；

(2)分析热控涂层所接受空间辐照的组成部分，热控涂层在所处的空间环 境中吸收的辐照通量由其太阳吸收率乘以试件板面积再乘以辐照能量得到， 其计算式为：α_s·A·E，其中，α_s为太阳吸收率，A为试件板面积，E为 辐照能量；

(3)实时采集热控涂层下面试件板的温度T_coating和热沉端的温度T_sink

(4)根据斯蒂芬-波尔兹曼定律计算得到热控涂层向空间辐射的热量，其 计算式为：ε·A·σ·T_coating⁴，其中，ε为热控涂层的发射率，σ为斯蒂芬- 波尔兹曼常数，热控涂层的发射率受空间环境影响很小，其发射率值可认为 是常数；

(5)根据探测器探测的温度，计算试件板的内能增加Q_inner-energy和试件板 在空间的换热损失Q_{heat-exchange}；

(6)根据能量守恒的原理：

α_s·A·E＝ε·A·σ·T_coating⁴+Q_inner-energy+Q_{heat-exchange}

计算得到热控涂层的太阳吸收率；

其中，试件板的内能增加为：试件板在 空间的换热损失包括试件板传导热损失和试件板与热沉端的辐射换热损失；

试件板传导热损失为：辐射换热损失为：

Q_Rad＝Fε₁Aσ(T_coating⁴-T_sink⁴)；

式中，m为试件板质量，c为试件板的热容，K为热传导系数，x为热 传导的位移，F为辐射换热角系数，ε₁为试件板的发射率，t表示热传导的 时间。

2.根据权利要求1所述的一种热控涂层太阳吸收率的测量方法，其特 征在于：该测量方法适用于地面模拟空间环境中接受太阳模拟器辐照时热控 涂层太阳吸收率的测试。