[发明专利]光学单元和成像设备有效

专利信息
申请号: 201010107958.2 申请日: 2010-01-28
公开(公告)号: CN101806951A 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 马场友彦;L·桑德尔 申请(专利权)人: 索尼公司;安特勇国际有限责任公司
主分类号: G02B13/00 分类号: G02B13/00;G02B13/18;H04N5/225
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 代理人: 秦晨
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 光学 单元 成像 设备
【说明书】:

技术领域

本发明涉及应用于成像器械的光学单元和成像设备。

背景技术

在近年来安装在蜂窝电话、个人计算机(PC)等上的成像器械 中,强烈地要求高分辨率、低成本和小型化。

诸如CCD(电荷耦合器件)或CMOS(互补金属氧化物半导 体)图像传感器等的成像装置的单元间距(cell pitch)已经被急剧地 小型化,并且与通常的光学系统相比,要求光学系统具有更高的成像 性能,在该光学系统中抑制了光学像差,尤其是轴向色差。

另外,已知有这样一种技术,其中:同时以晶片状态制造大量的 透镜,以响应于价格要求而降低成本。

作为每一次以晶片状态制造大量的透镜的实例,例如,有以 US2006/0044450A1(专利文献1)中公开的技术为代表的技术。

发明内容

在专利文献1中,存在各种晶片级光学技术,但是,由于该技术 起初涉及诸如CIF或VGA的少量的像素,所以对于三百万以上像 素,该技术在光学性能方面还没有达到实用的级别。

也就是说,当期望在三百万以上像素的高像素数的情况中引入该 技术时,其中充分地减少轴向色差和其它像差的高级光学设计是必要 的。

因此,希望提供一种能够以晶片级光学器件(wafer level optics)实现最佳透镜的光学单元和成像设备。

根据本发明的一个实施例的光学单元包括从物侧向像侧依次设置 的第一透镜组和第二透镜组,其中第一透镜组包括从物侧向像侧依次 设置的第一透镜元件、第一透明体和第二透镜元件,并且,其中第二 透镜组包括从物侧向像侧依次设置的第三透镜元件、第二透明体和第 四透镜元件。

根据本发明的另一实施例的光学单元包括从物侧向像侧依次设置 的第一透镜组和第二透镜组,其中第一透镜组包括从物侧向像侧依次 设置的第一透镜元件、第一缓冲层、第一透明体和第二透镜元件,并 且,其中第二透镜组包括从物侧向像侧依次设置的第三透镜元件、第 二透明体、第二缓冲层和第四透镜元件。

根据本发明的又一实施例的成像设备包括成像装置和在成像装置 上形成被摄体图像的成像透镜,其中成像透镜包括从物侧向像侧依次 设置的第一透镜组和第二透镜组,其中第一透镜组包括从物侧向像侧 依次设置的第一透镜元件、第一透明体和第二透镜元件,并且,其中 第二透镜组包括从物侧向像侧依次设置的第三透镜元件、第二透明体 和第四透镜元件。

根据本发明的实施例,可以以晶片级光学器件实现最佳透镜。

附图说明

图1示出根据本发明第一实施例的成像透镜的配置实例的视图;

图2示意性地示出根据本实施例的第四透镜元件的表面形状的实 例的视图;

图3是示出提供给根据本实施例的成像透镜中的各个透镜、形成 各个透镜组的基板、以及形成成像单元的盖玻璃(cover glass)的表 面编号的视图;

图4A至图4C是示出实例1中的球差、像散和畸变的像差曲线 图;

图5是根据本发明第二实施例的成像透镜的配置实例;

图6A至图6C是示出实例2中的球差、像散和畸变的像差曲线 图;

图7是根据本发明第三实施例的成像透镜的配置实例;

图8A至图8C是示出实例3中的球差(色差)、像散和畸变的 像差曲线图;

图9是示出根据本发明第四实施例的成像透镜的配置实例的视 图;

图10是示出根据本发明第五实施例的成像透镜的配置实例的视 图;以及

图11是示出应用根据实施例的成像透镜的成像设备的配置实例 的框图。

具体实施方式

在下文中,将参照附图解释本发明的各实施例。

按照如下顺序进行解释。

1、第一实施例(应用光学单元的成像透镜的第一配置实例)

2、第二实施例(应用光学单元的成像透镜的第二配置实例)

3、第三实施例(应用光学单元的成像透镜的第三配置实例)

4、第四实施例(应用光学单元的成像透镜的第四配置实例)

5、第五实施例(应用光学单元的成像透镜的第五配置实例)

6、第六实施例(成像设备的配置实例)

<1、第一实施例>

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