[发明专利]电容容差性故障检测仪

说明书

技术领域

本发明涉及一种电容故障检测仪。

背景技术

电容作为电子系统中广泛使用的元器件，易发生容差性故障，目前电容的 检测仅依赖于万用表，定性地测量电容是否有漏电、内部短路或是击穿现象， 只能粗略地估计电容容量，对电容故障检测缺乏有效的手段和相关产品。

发明内容

为了克服目前无法有效检测容差性电容故障，提供一种电容容差性故障检 测仪。

本发明是通过下述方案予以实现的：电容容差性故障检测仪，它包括测试 信号发生电路、低通滤波电路、测试响应处理电路、测试控制电路和故障显示 电路，测试信号发生电路包括测试激励电路和信号调整电路，测试控制电路的 控制信号输出端与测试激励电路的控制信号输入端相连，测试激励电路的信号 输出端与信号调整电路的信号输入端相连，低通滤波电路包括电阻R1、电阻 R2、一号集成运算放大器和反馈电阻Rf，电阻R1的一端与信号调整电路的信 号输出端连接，电阻R1的另一端与一号集成运算放大器的同相输入端连接， 电阻R2的一端接地，电阻R2的另一端、反馈电阻Rf的一端分别与一号集成 运算放大器的反相输入端连接，反馈电阻Rf的另一端连接一号集成运算放大 器的输出端，一号集成运算放大器的正电源输入管脚接正电压，一号集成运算 放大器的负电源输入管脚接负电压，一号集成运算放大器的输出端与测试响应 处理电路的信号输入端连接，测试响应处理电路的监控信号输出端与测试控制 电路的监控信号输入端连接，测试响应处理电路的信号输出端与故障显示电路 的信号输入端连接，测试控制电路的控制显示输出端与故障显示电路的控制输 入端连接。

应用本发明对待测电容C1进行检测，将待测电容C1引入到本发明所述 的电路，待测电容C1的一端与低通滤波电路中的一号集成运算放大器的同相 输入端连接，待测电容C1的另一端接地，对低通滤波电路的信号输入端输入 某固定频率的测试激励信号，电容正常情况与电容发生故障时相比，滤波器对 输入的测试激励信号幅值的衰减情况是不同的，通过检测其输出信号幅值的衰 减程度来判断待测电容C1是否存在故障。本发明能够对电容容差性故障进行 有效的检测，能够检测出电容发生容差变化大于10％的情况，具有电容容差性 故障检测准确、简单实用、便于携带、使用方便和利于推广等优势。

附图说明