[发明专利]在位式光电测量方法及装置无效

专利信息
申请号: 201010109313.2 申请日: 2010-02-08
公开(公告)号: CN101769865A 公开(公告)日: 2010-07-07
发明(设计)人: 马海波;曹志峰;赵骏;陈英斌;王健 申请(专利权)人: 聚光科技(杭州)股份有限公司
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 310052浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 在位 光电 测量方法 装置
【权利要求书】:

1.在位式光电测量方法,其特征在于:

光发射单元通过机械结构连接光接收单元,光发射单元通过所述机械结构安装在管道上的第一位置,光接收单元通过所述机械结构安装在管道上的第二位置,光发射单元和/或光接收单元与所述管道间是非固定连接;

所述光发射单元和光接收单元间形成测量光路,该测量光路处于所述机械结构、管道内;分析管道内被测流体对测量光的影响,得到被测流体的参数;

所述管道发生形变时,管道上的第一位置和第二位置发生相对移动,所述光发射单元和/或光接收单元与管道间有相对移动,光发射单元发出的测量光依然能够被光接收单元接收。

2.根据权利要求1所述的测量方法,其特征在于:在管道上的第一位置和/或第二位置处设置限位件,所述机械结构穿过并能在限位件内移动。

3.根据权利要求1或2所述的测量方法,其特征在于:所述机械结构包括第一内管。

4.根据权利要求3所述的测量方法,其特征在于:所述第一内管至少包括一个沿管道内气流方向的投影覆盖或部分覆盖管道内的测量光束的挡体。

5.根据权利要求3所述的测量方法,其特征在于:所述机械结构还包括与第一内管连接的第二内管。

6.在位式光电测量装置,其特征在于:所述装置包括:

光发射单元;

光接收单元;

光发射单元通过机械结构连接光接收单元,光发射单元通过所述机械结构安装在管道上的第一位置,光接收单元通过所述机械结构安装在管道上的第二位置,光发射单元和/或光接收单元与所述管道间是非固定连接,光发射单元和光接收单元间形成测量光路,该测量光路处于所述机械结构、管道内;

分析单元,用于分析管道内流体对测量光的影响,从而得到流体的参数。

7.根据权利要求6所述的测量装置,其特征在于:在管道上的第一位置和/或第二位置处设置限位件,所述机械结构穿过并能在限位件内移动。

8.根据权利要求6或7所述的测量装置,其特征在于:所述机械结构包括第一内管。

9.根据权利要求8所述的测量装置,其特征在于:所述第一内管至少包括一个沿管道内气流方向的投影覆盖或部分覆盖管道内的测量光束的挡体。

10.根据权利要求8所述的测量装置,其特征在于:所述机械结构还包括与第一内管连接的第二内管。

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