[发明专利]基于多天线系统的空间射频性能测试方法及系统无效
申请号: | 201010109491.5 | 申请日: | 2010-02-12 |
公开(公告)号: | CN102158873A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 郭阳;郑欣宇;禹忠 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | H04W24/00 | 分类号: | H04W24/00;H04B7/04 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人: | 王黎延;周义刚 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 天线 系统 空间 射频 性能 测试 方法 | ||
1.一种基于多天线系统的空间射频性能测试方法,其特征在于,设置合并后的子径数及子径映射规则,该方法包括:
信道模拟器根据基站信号模拟器输入的信号输出径信号至分路装置;
分路装置根据预先设置的合并后的子径数及子径映射规则,将来自信道模拟器的径信号映射到测试天线;
测试天线根据来自分路装置的径信号发送空间信号;
待测设备接收所述空间信号,之后由空间射频性能分析与显示模块根据所述待测设备接收的空间信号对所述待测设备的空间射频性能进行分析及显示。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述测试天线的数目等于信道模拟器输出径的数目。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述将来自信道模拟器的径信号映射到测试天线为:根据所述设置的合并后的子径数对径信号的子径进行合并,再将合并后的子径按照设置的子径映射规则映射到测试天线。
4.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,待测设备位于全电波吸收暗室的中心位置、测试天线位于以待测设备为中心的圆周上。
5.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述空间射频性能分析与显示模块通过测试仪器/仪表中相应功能模块实现;或者,
所述空间射频性能分析与显示模块为一单独的装置。
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,设置径与测试天线的对应关系,所述合并后的子径数为3,所述子径映射规则为:径的子径中信号功率最强的子径信号映射至与所述径所对应的天线,其他两条子径的信号映射至所述径所对应的天线两侧的两根天线。
7.一种基于多天线系统的空间射频性能测试系统,其特征在于,该系统包括:基站信号模拟器、信道模拟器、分路装置、全电波吸收暗室、测试天线、待测设备和空间射频性能分析与显示模块;其中,
所述基站信号模拟器,用于模拟基站的发射信号并输出至信道模拟器;
所述信道模拟器,用于根据基站信号模拟器输入的信号输出径信号至分路装置;
所述分路装置,用于根据预先设置的合并后的子径数及子径映射规则,将来自信道模拟器的径信号映射到测试天线;
所述测试天线,位于全电波吸收暗室中,用于根据来自分路装置的径信号发送空间信号;
所述待测设备,用于接收所述测试天线发送的空间信号;
所述空间射频性能分析与显示模块,用于根据所述待测设备接收的空间信号对所述待测设备的空间射频性能进行分析及显示。
8.根据权利要求7所述的系统,其特征在于,所述测试天线的数目等于信道模拟器输出径的数目。
9.根据权利要求7或8所述的系统,其特征在于,所述分路装置将来自信道模拟器的径信号映射到测试天线为:根据所述设置的合并后的子径数对径信号的子径进行合并,再将合并后的子径按照设置的子径映射规则映射到测试天线。
10.根据权利要求7或8所述的系统,其特征在于,待测设备位于全电波吸收暗室的中心位置、测试天线位于以待测设备为中心的圆周上。
11.根据权利要求7或8所述的系统,其特征在于,所述空间射频性能分析与显示模块通过测试仪器/仪表中相应功能模块实现;或者,
所述空间射频性能分析与显示模块为一单独的装置。
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