[发明专利]一种硅片预对准装置及预对准方法有效
申请号: | 201010110212.7 | 申请日: | 2010-02-11 |
公开(公告)号: | CN102157421A | 公开(公告)日: | 2011-08-17 |
发明(设计)人: | 张鹏远;姜杰;王绍玉 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司;上海微高精密机械工程有限公司 |
主分类号: | H01L21/68 | 分类号: | H01L21/68 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人: | 屈蘅;李时云 |
地址: | 201203 上海*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硅片 对准 装置 方法 | ||
1.一种硅片预对准装置,用于实现硅片的定心和硅片缺口的定向,包括机械视觉系统、旋转台以及机械手,其特征在于:
机械视觉系统:用于对硅片圆周边缘进行扫描采样,拟合出硅片的型心,以及对硅片的缺口进行粗定位及细采样,拟合出缺口的中心位置;
旋转台:用于承载硅片,且旋转台将硅片的缺口旋转到指定位置,在所述指定位置处,硅片的型心与缺口的中心位置的连线平行于X轴正方向,此时硅片的型心到旋转台的型心的偏移量分别为Δx,Δy;且进一步使旋转台沿Y向移动,以补偿上述偏移量Δy;
机械手:用于抓取硅片沿X向移动,以补偿上述偏移量Δx。
2.如权利要求1所述的硅片预对准装置,其特征在于,所述旋转台安装在一个可沿Y向移动的平台上,并且所述旋转台本身可绕Z轴旋转以及沿Z向运动。
3.如权利要求1所述的硅片预对准装置,其特征在于,所述机械手安装在一X向直线导轨上,在所述直线导轨上移动。
4.一种利用如权利要求1至3中任一项所述的硅片预对准装置的硅片预对准方法,其特征在于,包括以下步骤:
机械视觉系统对硅片圆周边缘进行扫描采样,拟合出硅片的型心;
机械视觉系统对硅片缺口进行粗定位及细采样,拟合出缺口的中心位置;
旋转台将缺口旋转到指定位置,在所述指定位置处,硅片型心与缺口中心的连线平行于X轴正方向,此时硅片型心到旋转台型心的偏移量为Δx,Δy;
旋转台沿Y向移动,补偿偏移量Δy;
机械手抓取硅片沿X向移动,补偿偏移量Δx。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海微电子装备有限公司;上海微高精密机械工程有限公司,未经上海微电子装备有限公司;上海微高精密机械工程有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010110212.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造