[发明专利]一种多光开关切换装置及方法无效
申请号: | 201010112144.8 | 申请日: | 2010-02-08 |
公开(公告)号: | CN101783705A | 公开(公告)日: | 2010-07-21 |
发明(设计)人: | 刘婷 | 申请(专利权)人: | 中兴通讯股份有限公司 |
主分类号: | H04B10/08 | 分类号: | H04B10/08;H04B10/12 |
代理公司: | 北京派特恩知识产权代理事务所(普通合伙) 11270 | 代理人: | 张颖玲;王黎延 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 开关 切换 装置 方法 | ||
技术领域
本发明涉及光端口设备测试领域,特别是指一种多光开关切换装置及方法。
背景技术
现有技术中,对于具有多路光端口的传输设备,需要进行传输误码性能等测试。目前,自动化测试脚本只能对单路光端口进行测试,但是,在多路光端口传输设备的测试过程中需要对多路光端口进行遍历。
为解决上述问题,专利号为CN200510088660.0的发明专利公布了一种用于多光端口传输设备测试的光开关切换装置,该光开关切换装置包括主控制器单元和光开关阵列单元;所述主控制器包括处理器单元、通信接口单元、驱动电路单元、可编程逻辑单元;所述主控制器用于在光开关切换装置与误码测试仪表之间的信息通讯,并对所述光开关阵列单元中的光开关进行配置;所述光开关阵列单元,包括多个光开关,其配置由所述主控制器的主处理器单元通过驱动电路单元对每个光开关的控制脚的配置来实现。该装置通过控制光开关的状态,可以将一台测试仪表和一个被测多路光端口设备中任意一路光端口连接进行测试。但是,该装置的缺点是只能连接一台测试仪表,测试仪表只能与固定的光开关相连,不利于客户的使用,通用性和易用性不佳。
发明内容
有鉴于此,本发明的主要目的在于提供一种多光开关切换装置及方法,测试更简单,操作更灵活。
为达到上述目的,本发明的技术方案是这样实现的:
本发明提供了一种多光开关切换装置,该装置包括:上位机、主控制单元和光开关阵列单元;
上位机,用于向主控制单元发送光开关控制命令,接收测试仪表的测试结果;
主控制单元,用于接收光开关控制命令,解析放大成光开关控制信号,之后发送给光开关阵列单元;
光开关阵列单元,用于接收主控制单元发送的光开关控制信号,根据光开关控制信号对相应光开关进行配置;
所述光开关阵列单元包括两个或两个以上光开关,任意一个光开关均可连接测试仪表。
上述方案中,所述主控制单元进一步包括:处理器单元,用于根据接收的光开关控制命令,解析后发送给驱动电路单元;向LED电路单元发送LED控制信号;驱动电路单元,用于放大处理器单元发送的光开关控制信号;LED电路单元,用于接收处理器单元的LED控制信号,显示光开关阵列单元的连接状态。
上述方案中,每个光开关连接一个或一个以上测试仪表、或被测设备的光端口。
上述方案中,所述光开关阵列单元,具体用于将当前测试的光开关及连接测试仪表的光开关配置为交叉状态,其余的光开关配置为反射状态。
上述方案中,所述主控制单元进一步包括:按键电路单元,用于通过自身按键向处理器单元发送光开关控制命令;相应的,主控制单元接收按键电路单元发来的光开关控制命令。
本发明还一种多光开关切换方法,
主控制单元接收光开关控制命令,并对收到的光开关控制命令进行解析,之后将解析后的光开关控制信号放大,发送给光开关阵列;
光开关阵列根据光开关控制信号配置光开关的状态;
所述光开关阵列单元包括两个或两个以上光开关,任意一个光开关均可连接测试仪表。
上述方案中,所述光开关控制命令由上位机发送给主控制单元;或由按键控制电路单元通过自身按键发送给主控制单元。
由此可见,本发明所提供的多光开关切换装置及方法,通过光开关控制信号配置光开关阵列单元,可连接多台测试仪表和多路光端口的被测设备,且测试仪表位置不固定,测试简单,操作灵活。
附图说明
图1为本发明多光开关切换装置结构示意图;
图2为光开关结构示意图;
图3为本发明多光开关切换方法实现流程图。
具体实施方式
本发明的基本思想是:通过主控制单元向光开关阵列发送光开关控制信号,将需测试的光端口以及测试仪表连接的光开关配置为连接状态,其余光开关处于断开状态。
其中,所述光开关中可以连接一台或多台测试仪表,也可连接被测设备的光端口。
本发明一种多光开关切换装置,设置在测试仪表和多路光端口的被测设备之间,具体结构如图1所示,该装置包括主控制单元12和光开关阵列单元13;关键是:该装置还包括上位机11,与主控制单元12相连;其中,
上位机11,与主控制单元12相连,用于根据预先编辑的编译脚本自动向主控制单元12发送光开关控制命令,接收测试仪表的测试结果;
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