[发明专利]一种陷印图像质量和陷印方法效果的检测方法及系统

权利要求书

1.一种陷印图像质量检测方法，包括以下步骤：

(1)确定待检测陷印图像；

(2)建立偏移模型，从所述偏移模型中选取偏移情况；

(3)将所述陷印图像按照所选偏移情况进行偏移，获得偏移图像；

(4)计算与所述陷印图像相对应的原始图像和所述偏移图像之间的图像差异度；

(5)根据所述图像差异度和所选偏移情况，计算陷印图像的质量评价值，再根据该值判断陷印图像的质量。

2.如权利要求1所述陷印图像质量检测方法，其特征在于：步骤(1)中所述陷印图像为CMYK模式；如果陷印图像不是CMKY模式，则将其转换为CMKY模式。

3.如权利要求1所述陷印图像质量检测方法，其特征在于：步骤(2)中所述建立偏移模型的过程包括以下步骤：

(a)选择偏移模型的分布函数；

(b)设定偏移的最大像素个数M，所述M为正整数；

(c)根据所述分布函数计算获得偏移模型的偏移权重分布。

4.如权利要求1所述陷印图像质量检测方法，其特征在于：步骤(2)中，所述偏移情况包括CMYK模式中各个色板的偏移方向、各个色板的偏移距离以及发生该偏移情况的偏移概率，所述偏移概率根据偏移模型获得。

5.如权利要求1所述陷印图像质量检测方法，其特征在于：步骤(3)中所述陷印图像按照所述偏移情况进行偏移是指：陷印图像中的CMYK各个色板按照偏移方向和偏移距离发生偏移。

6.如权利要求1至5之一所述陷印图像质量检测方法，其特征在于：步骤(4)中所述图像差异度的计算过程为：分别计算原始图像与偏移图像相同坐标点上的像素颜色差异值，将所有像素颜色差异值的和作为图像差异度。

7.如权利要求1至5之一所述陷印图像质量检测方法，其特征在于：步骤(4)中所述图像差异度的计算过程如下：

对偏移图像上的每个像素点，以该像素点为中心，选取一个矩形窗口，计算整个窗口内的像素点与原始图像相同坐标的像素点的颜色差异值，将窗口内所有像素点的颜色差异值的平均值作为该像素点的颜色差异值；然后将所有像素点的颜色差异值的和作为图像差异度；所述矩形窗口的宽度W和高度H均在1个像素点和5个像素点之间。

8.一种陷印方法效果检测方法，包括以下步骤：

(1)确定待检测陷印方法，选择N个陷印对象，采用待检测陷印方法对所述N个陷印对象进行陷印处理，获得N个陷印图像；所述N为不小于2的正整数；

(2)建立偏移模型，从所述偏移模型中选取偏移情况；

(3)分别将N个陷印图像按照所述偏移情况进行偏移，获得N个偏移图像；

(4)分别计算陷印对象和与其对应的偏移图像之间的图像差异度，获得N个图像差异度；

(5)根据N个图像差异度和所选偏移情况，计算N个陷印图像的质量评价值，再根据N个质量评价值计算陷印方法的效果评价值，根据该值判断陷印方法的效果。

9.如权利要求8所述陷印方法效果检测方法，其特征在于：步骤(5)中所述陷印方法效果评价值的计算方法是：将N个陷印图像的质量评价值的平均值作为陷印方法的效果评价值。

10.如权利要求8所述陷印方法效果检测方法，其特征在于：步骤(5)中所述陷印方法效果评价值的计算方法是：设定阈值，统计N个陷印图像的质量评价值中不超过所述阈值的百分比，将其作为陷印方法的效果评价值。

11.一种陷印图像质量检测系统，包括：

确定装置(11)，用于确定待检测的陷印图像；

建立装置(12)，用于建立偏移模型，并从该偏移模型中选取偏移情况；

偏移装置(13)，用于将待检测的陷印图像按照偏移情况进行偏移，获得偏移图像；

计算装置(14)，用于计算与陷印图像相对应的原始图像和偏移图像之间的图像差异度；

判断装置(15)，用于根据所述图像差异度和所选偏移情况，计算陷印图像的质量评价值，根据该值判断陷印图像的质量。

12.一种陷印方法效果检测系统，包括：

陷印装置(31)，用于选择N个陷印对象，采用待检测陷印方法对所述N个陷印对象进行陷印处理，获得N个陷印图像；所述N为不小于2的正整数；

建立装置(32)，用于建立偏移模型，并从所述偏移模型中选取偏移情况；

偏移装置(33)，用于分别将所述N个陷印图像按照所述偏移情况进行偏移，获得N个偏移图像；

计算装置(34)，用于分别计算所述N个陷印对象和与其相对应的偏移图像之间的图像差异度，获得N个图像差异度；

判断装置(35)，用于根据N个图像差异度和所选偏移情况，计算N个陷印图像的质量评价值，再根据N个质量评价值计算陷印方法的效果评价值，根据该值判断陷印方法的效果。