[发明专利]铁损测试仪的测试状态识别装置及其识别方法无效

专利信息
申请号: 201010116184.X 申请日: 2010-03-02
公开(公告)号: CN101806844A 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 顾伟驷;苏英俩;余佩琼;杭亮 申请(专利权)人: 浙江工业大学
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R21/08
代理公司: 杭州君易知识产权代理事务所 33223 代理人: 陈向群
地址: 310014 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 测试仪 测试 状态 识别 装置 及其 方法
【权利要求书】:

1.铁损测试仪的测试状态识别方法,其特征在于所述方法是采用以下步骤 实现的:

(1)由写入微控制器内的程序向数模转换器输出控制指令,使数模转换器 产生正弦波信号;

(2)正弦波信号经过功率放大器驱动初级线圈;

(3)模数转换器通过采样电阻采样初级线圈的电流;

(4)模数转换器将采样得到的电流数据输送至微控制器,微控制器对输入 的电流数据进行内部程序处理,判断测试探头是否脱离硅钢片试样;

(5)判断测试探头是否脱离硅钢片试样:

a.当测试探头与硅钢片试样紧密接触时,正弦波信号经过初级线圈产生磁 场,并在测试探头与硅钢片试样之间形成磁回路,这时初级线圈的电流远小于 30毫安;

b.当测试探头脱离硅钢片试样时,测试探头与硅钢片试样之间没有形成磁 回路,此时流经初级线圈的电流大于30毫安;

(6)当识别出测试探头脱离硅钢片试样后,微控制器输出控制指令,关闭 数模转换器,使得初级线圈中无电流经过;

上述铁损测试仪的测试状态识别方法所采用的识别装置包括微控制器、模 数转换器、数模转换器、测试探头、功率放大器和采样电阻,所述微控制器分 别与模数转换器、数模转换器相连接,所述测试探头包括初级线圈,所述初级 线圈串接在功率放大器与采样电阻之间,所述数模转换器串接在微控制器与功 率放大器之间,所述模数转换器串接在微控制器与采样电阻之间,所述采样电 阻的另一端接地。

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