[发明专利]阻抗元件自动分选检测评估系统

说明书

技术领域

本发明涉及阻抗元件自动分选检测系统，特别涉及具有评估模块的阻抗元件自动分选检测评估系统。

背景技术

在电子元件中最基础是的阻抗元件，如电容器、电阻器在国内大规模生产并大量出口，随着阻抗元件用途的拓展，要求的提高，生产规模的扩大，对其检测要求也更高。目前高品质阻抗元件的发展趋势是朝着“三高”即高温、高频、高压方向，有些阻抗元器件须在频率1kHz--100kHz，电压4kV条件下的测试，并且生产厂家需要在测试后对阻抗元件的质量有一个评估，查明生产设备和工艺装备的实际精度，以便作出正确的技术决定。在阻抗元件生产检测技术方面领先的意大利、日本例如阿可、TOWA公司等的设备，近年即使阻抗元件生产大量转向中国而它们的检测设备由于价格等因素却难以进入国内，造成生产和检测的脱节，限制了阻抗元件生产向高水平发展。

而且，国内尚无适合此要求的阻抗元件批量生产专用检测设备可提供市场，如果使用进口设备不仅在于高昂的价格，而且很重要的是难以得到及时的售后服务，特别当整机中有部分仪器或零件损坏，整台设备就有可能报废。所以为了满足国内的要求研制高精度的阻抗元件自动分选检测评估系统是非常必要的。

发明内容

本发明所要解决的技术问题在于提供一种阻抗元件自动分选检测评估系统，能够对阻抗元器件的检测分选并对参数进行分析和处理，形成可使用户能评估阻抗元器件质量的评估报告。为了解决上述的技术问题，本发明的技术方案如下：

一种阻抗元件自动分选检测评估系统，包括：一用来精确定位被测阻抗元件的LCR分选设备；用来测量阻抗元件参数的LCR测量仪；用来控制LCR分选设备精确定位，从而协助测试单元和LCR测量仪测量被测阻抗元件参数的控制单元，其特征在于，所述系统还设有一采集并结合LCR测量仪上被测阻抗元件参数以及控制单元上输出的数据并通过数据模型处理后得出质量评估报告的处理单元；所述处理单元内设有用来采集被测阻抗元件数据的数据采集模块；可以将已经保存的数据读入的历史数据读入模块；可以显示被测阻抗元件数据和处理数据结果的显示模块；用来保存被测阻抗元件数据的存储模块；负责将被测阻抗元件参数经过数据模型处理的数据评估模块，以及负责将数据评估模块处理的数据以图形方式输出的评估报告模块。

进一步特征为，所述的数据采集模块包括用来获取可编程控制器数据和LCR测量仪数据同步信号的采集分选设备同步信号模块，采集LCR测量仪数据模块，采集可编程控制器数据模块，用来查看数据是否异常的分析数据模块。

进一步特征为，所述数据评估模型实现读入至少100个LCR元器件的参数；将读入的数据进行分组，每5个一组，不满5个的不参与统计；计算各子组样本的平均数Xi＝(Xi1+Xi2+Xi3+Xi4+Xi5)/5；计算各子组样本极差Ri＝max(xij)-min(xij)；计算各样本子组平均值的总平均值X与各样本子组极差值的总平均值R；计算控制图的上限UCLR，中心值CLR，下限LCLR；计算过程能力指数Cp，偏移过程能力指数Cpk。

进一步特征为，所述数据评估模块读入100个LCR元器件的参数，找出所有数据中的最大值Xmax和最小值Xmin；算出所有数据中最大值与最小值之间的差值R＝Xmax-Xmin；计算分组组距h＝R/k，k为分组数；计算各分组数据范围；计算各分组数据范围内的包含数据个数；计算每组数据；计算样本标准偏差值S；计算过程能力指数Cp和偏移过程能力指数Cpk。

进一步特征为，所述LCR分选设备包括机械传动机构，给机械传动机构中的分度机构采用间歇分度机构，所述控制单元包括可编程控制器、可编程角度计数器、旋转编码器，在机械传动部分主轴上设置传感器，该传感器输出电脉冲信号给旋转编码器，该旋转编码器发出信号触发可编程角度计数器，根据拟定好的时序图输出低电平信号给可编程控制器。

进一步特征为，所述的间歇分度机构为马歇尔间歇机构。

进一步特征为，所述测量阻抗原件数据的检测单元要完成包括低电平开路容量检测单元、直流跳火单元、直流耐压单元、交流耐压检测单元、绝缘电阻测试单元；LCR测量仪要完成损耗检测及容量分选单元的测试。

并且所述LCR分选设备包括测试夹具，该测试夹具的测试触点采用合金材料，LCR测量仪在100kHz下，通过处理器对经计量的标准件的参数进行运算、分段校正、设计补偿表；可编程控制器利用时序严格控制，错时启动在4kv高压下测量；可编程控制器为PLC控制器。