[发明专利]红外触摸屏抗光干扰性能的测试装置及其测试方法

权利要求书

1.一种红外触摸屏抗光干扰性能的测试装置，其特征在于，包括：

测试平台，放置被检测抗光干扰性能的红外触摸屏；

模拟干扰光源，发射可被红外触摸屏的红外接收元件所接收的干扰光；

光源控制单元，至少能够调节干扰光的光强；以及

旋转构件，调整干扰光射向红外接收元件的入射角。

2.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述模拟干扰光源为红外光源。

3.如权利要求2所述的测试装置，其特征在于：所述模拟干扰光源的横向长度大于其所照射的红外触摸屏的接收边的长度。

4.如权利要求1所述的测试装置，其特征在于：所述光源控制单元中包含有光强测试单元，用于测试所述干扰光的光强。

5.如权利要求1至4之一所述的测试装置，其特征在于：所述旋转构件在调整所述干扰光射向所述红外接收元件的入射角的过程中，所述模拟干扰光源与所述红外接收元件之间的距离保持不变。

6.一种红外触摸屏抗光干扰性能的测试装置的测试方法，所述测试装置包括放置被检测抗光干扰性能的红外触摸屏的测试平台，发射可被红外触摸屏的红外接收元件所接收的干扰光的模拟干扰光源，至少能够调节干扰光的光强的光源控制单元以及调整干扰光射向红外接收元件的入射角的旋转构件；其特征在于，该测试方法包括以下步骤：

控制模拟干扰光源发射干扰光射向红外触摸屏的红外接收元件；以及

调整干扰光射向红外接收元件的入射角，调节干扰光的光强，记录不同入射角的干扰光使红外触摸屏发生检测异常的临界状态时所对应的临界光强。

7.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于：所述调节干扰光射向红外接收元件的入射角中的入射角的大小从理论零度开始逐渐递增。

8.如权利要求7所述的测试方法，其特征在于：所述理论零度为所述模拟干扰光源的下沿到达红外接收单元所能达到的最小接收角度。

9.如权利要求6所述的测试方法，其特征在于：所述调节干扰光的光强为所述光源控制单元对所述模拟干扰光源所发射的干扰光的光强进行空间和时间轴上的可编程控制。