[发明专利]方位基准镜标校方法

权利要求书

1.一种方位基准镜标校方法，其特征在于：该标校方法包括：

⑴架设自准直经纬仪：

①将自准直经纬仪放置于分度头正前方；

②将自准直经纬仪调平后，使其照准分度头台面，记录分度头在0°、90°、180°、270°位置时自准直经纬仪的方位读数DX和俯仰读数VX即： D1、V1、D2、V2、D3、V3、D4和V4，通过计算公式D0=D1–D3、V0=D2–D4的计算得到方位基准值D0、俯仰基准值V0；

⑵方位基准镜标校：

①将方位基准镜固定在分度头台面的中心位置上，基准镜上的四个调整螺钉分别对应分度头的0°、90°、180°、270°位置；将自准直经纬仪在自准直状态下照准方位基准镜，记录分度头在0°、90°、180°、270°位置时自准直经纬仪照准方位基准镜的方位读数和俯仰读数，按照步骤（1）中所述的计算公式求出D镜值和V镜值；

②调整方位基准镜90°和270°位置的调整螺钉使方位基准镜的D镜值与分度头台面的D0值相符；调整方位基准镜0°和180°位置的调整螺钉使方位基准镜的V镜值与分度头台面的V0值相符；经调整，得到与分度头台面D0值和V0值相符的基准镜D镜值、V镜值，即表明基准镜面与基准镜安装底面平行；

③将基准镜的锁紧螺母锁紧，复验镜面D镜值、V镜值，符合精度要求则将调整螺钉封胶固定。

2.根据权利要求1所述的方位基准镜标校方法，其特征在于：所述的自准直经纬仪为Leica TM5100A自准直经纬仪，角度测量精度0.5″。

3.根据权利要求1所述的方位基准镜标校方法，其特征在于：所述的分度头为激光细分多齿分度头。

4.根据权利要求1所述的方位基准镜标校方法，其特征在于：所述的标校方法还包括：在步骤（2）结束后进行复验，即调整螺钉封胶固化后，以自准直经纬仪照准镜面，测出D镜值、V镜值；将方位基准镜从分度头上取下，自准直经纬仪照准分度头台面，测出D0值、V0值，与方位基准镜的D镜值、V镜值比较，符合要求则该方位基准镜标校完成。

5.根据权利要求1或4所述的方位基准镜标校方法，其特征在于：所述的方位基准镜镜面与基准镜安装底面之间的平行精度为平行度<0.0015mm。