[发明专利]一种有机单晶晶体管阵列及其制备方法无效

专利信息
申请号: 201010122792.1 申请日: 2010-03-05
公开(公告)号: CN101789440A 公开(公告)日: 2010-07-28
发明(设计)人: 曾雄辉;张鹏强;徐科;包峰;黄凯;张锦平 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: H01L27/28 分类号: H01L27/28;H01L21/8234
代理公司: 南京苏科专利代理有限责任公司 32102 代理人: 陈忠辉
地址: 215125 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 有机 晶体管 阵列 及其 制备 方法
【权利要求书】:

1.一种有机单晶晶体管阵列,所述阵列为底栅极底接触结构,自底部朝向上表面依次包括基底的栅极、绝缘层、源漏电极阵列及有机半导体晶体,其特征在于:所述源漏电极阵列表面修饰有诱导晶体生长的石墨烯,有机半导体晶体生长于石墨烯薄膜之上。

2.根据权利要求1所述的一种有机单晶晶体管阵列,其特征在于:所述源漏电极阵列为金属电极,其厚度为40nm,沟道长度可选包括10μm~100μm。

3.根据权利要求1所述的一种有机单晶晶体管阵列,其特征在于:所述有机半导体晶体的生长原料至少包括并五苯、红荧烯、C60。

4.一种有机单晶晶体管阵列的制备方法,其特征在于包括步骤:

I、选用掺杂的硅片作为基底的栅极,并在栅极上部制备硅的氧化绝缘层,得到底片;

II、通过光刻在底片上制备源漏电极阵列;

III、制备与源漏电极阵列相吻合的聚二甲基硅氧烷阵列,再将石墨烯涂布到该聚二甲基硅氧烷阵列上并风干;

IV、通过将两阵列压合,去除聚二甲基硅氧烷阵列,将石墨烯遮覆于源漏电极阵列之上;

V、对步骤IV所得晶体管表面通过物理气相传输方法蒸镀有机半导体材料,调控生长工艺参数,制备得到有机单晶晶体管阵列。

5.根据权利要求4所述的一种有机单晶晶体管阵列的制备方法,其特征在于:步骤III中涂布的石墨烯浓度范围为0.1-1M。

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