[发明专利]一种计算密实性颗粒介质光散射特性的方法

权利要求书

1.一种计算密实性颗粒介质光散射特性的方法，介质光散射特性其中，θ_i为入射光天顶角，为入射光方位角，θ_s为观测天顶角，为观测方位角，λ为入射光波长；为介质面散射的二向反射分布特性，为介质体散射的二向反射分布特性；

所述介质面散射的二向反射分布特性

其中，

k＝2π/λ，π为圆周率，T为介质表面的特征长度，

H＝3-D，D为介质表面的分维数，0＜H＜1

Γ()为伽马函数，

v_z＝k(cosθ_s+cosθ_i)，

或

或

或

R_h0为水平极化菲涅耳反射系数，R_v0为垂直极化菲涅耳反射系数；

所述介质体散射的二向反射分布特性

其中，

ω为散射介质单次散射反照率，μ₀＝cosθ_i，u＝cosθ_s，

P(g)=1+Σn=1∞AnbnPn(g),]]>

b_n为相函数勒让德展开系数，P_n()为勒让德多项式，g为μ₀或u；

H(g)=[1-ωg(r0+1-2r0g2ln1+gg)]-1,]]>r0=1-γ1+γ,]]>γ=1-ω.]]>

2.根据权利要求1所述的计算密实性颗粒介质光散射特性的方法，其特征在于，在θ_s＝0°时考虑遮蔽效应，则介质面散射的二向反射分布特性

tan(θ₀)表示粗糙面的均方根斜率，erfc()为余误差函数。