[发明专利]微处理器及初始化微处理器的方法

说明书

技术领域

本发明有关于微处理器中熔线的利用，特别是有关于其中烧断的熔线的再生长。 

背景技术

现代的微处理器包括可以选择性地在微处理器制造期间烧断(blow)的熔线(fuse)，借以烧入控制值，根据读取自熔线的控制值可控制微处理器的操作。正常来说，当读取一个未烧断的熔线时，其会回传一个二进制的0，并且当读取一个烧断的熔线时，其会回传一个二进制的1(当然这个规则是可以相反的)。然而发明人观察微处理器的操作并且注意到烧断的熔线可能会改变其回传的数值；也就是说，纵使烧断的熔线在制造期间被测试时会回传正确的1，然而在一些实例中烧断的熔线会间歇性地回传不正确的0。这就称为熔线再生长(fuse re-growth)。也就是说，随着微处理器的连续操作，烧断的熔线可能会改变其数值，以至于当读取熔线时读到非烧断的数值而不是已经烧断的数值。这类熔线再生长的结果可能危害特定的应用这些再生长熔线中的数值的微处理器的后续操作。此外，再生长熔线所引起的问题可能在故障分析期间很难侦测。因此，需要提供当再生长熔线存在时，可以使得微处理器连续正确地操作的方法。 

发明内容

本发明提供一种微处理器。该微处理器包括一控制硬件，用于接收与储存至少一控制值以及提供该控制值到该微处理器的至少一电路以控制该微处理器的操作。该微处理器还包括一第一多条熔线，根据一既定值选择性地被烧断。该微处理器又包括一第二多条熔线，根据一错误校正值选择性地被烧断，该 错误校正值计算自烧入该第一多条熔线的该既定值。响应于重置该微处理器，该微处理器用于：读取该第一多条熔线与该第二多条熔线；使用读取自该第二多条熔线的数值侦测读取自该第一多条熔线的数值的一错误；使用读取自该第二多条熔线的数值将读取自该第一多条熔线的数值校正为该既定值；使用校正后的数值将该控制值写入该控制硬件；以及当读取自该第一多条熔线的数值的该错误无法校正时，防止该微处理器撷取与执行使用者程序指令。 

于另一层面，本发明提供一种初始化微处理器的方法。该方法包括读取一第一多条熔线与一第二多条熔线，其中该第一多条熔线根据一既定值选择性地被烧断，该第二多条熔线根据一错误校正值选择性地被烧断，该错误校正值计算自烧入该第一多条熔线的该既定值。该方法还包括使用读取自该第二多条熔线的数值侦测读取自该第一多条熔线的数值的一错误。该方法还包括使用读取自该第二多条熔线的数值将读取自该第一多条熔线的数值校正为该既定值；使用校正后的数值将一控制值写入一控制硬件，其中该控制硬件用于接收与储存该控制值以及提供该控制值到该微处理器的至少一电路用以控制该微处理器的操作；以及当读取自该第一多条熔线的数值的该错误无法校正时，防止该微处理器撷取与执行使用者程序指令。该读取、侦测、校正、使用与防止的步骤响应于该微处理器被重置而执行。 

本发明可以在微处理器中存在再生长熔线时，使得微处理器连续正确地进行操作。 

附图说明

图1为根据本发明一实施例的微处理器的框图； 

图2为根据本发明实施于制造图1的微处理器的步骤的流程图； 

图3为根据本发明实施例的图1的微处理器的操作的流程图； 

图4为根据本发明的另一实施例的微处理器的框图；以及 

图5为根据本发明的另一实施例的图4的微处理器的操作的流程图。 

附图中符号的简单说明如下： 

100：微处理器            102：指令快取 

104：指令转译器          106：指令调度器 

114：执行单元            116：微码单元 

118：校正的数据熔线值    122：重置微码程序 

124：控制硬件            126：数据熔线值 

128：EDAC熔线值          134：控制值 

144：临时储存器          132：EDAC熔线 

136：电压输入端          152：数据熔线 

172：熔线                428：不可校正的错误值 

438：不可校正的错误指标 

442：硬件校正的数据熔线值 

456：硬件EDAC单元 

202、204、206：方法步骤