[发明专利]液晶面板实装设备的影像检索方法

说明书

【技术领域】

本发明属于液晶显示器制造领域，具体是指液晶面板实装设备的影像检索方法。

【背景技术】

现有液晶面板实装设备的作用在于将液晶面板上的靶标与PWB上的靶标中心对齐后，通过加热加压，促使在PWB与面板中的ACF凝固，永久性导通电路。为对齐液晶面板上的靶标和PWB上的靶标，现均通过液晶面板实装设备上的影像检索装置来找到靶标位置，实现对位，影像检索流程如下：

1、液晶面板实装设备在手动状态下，建立一个基准模型，如图1所示：

2、液晶面板实装设备在正常状态下，通过影像检索装置中的工业相机，得到如图1所示窗口范围内的图像，画像处理系统再通过浓淡处理等方式进行分析，在窗口内得到与基准模型相近的一致点模型。影像检索装置结构如图2所示，图中工业相机为1，同轴光2、斜光3。

为了使所有的模型(靶标)与基准模型一致，而PWB及面板模型均不是发光源，故而需要外部光源进行打光处理。如同在黑夜中给人照相一样，就必须开闪光灯，否则一片漆黑。

先前的技术中，利用同轴光2来照射液晶面板上的靶标，而后，同轴光2关闭，利用斜光3照射PWB上的靶标，便于影像检索装置中的画像处理系统找出靶标位置，进而使PWB上的靶标中心位置与面板上靶标的中心位置重合。

同轴光、斜光光源的基本构成原理如下：

同轴光-通过垂直墙壁出来的变化发散光，射到一个使光向下的分光镜上，相机从上面通过分光镜看物体。

斜光-光是按一个角度投射到物体表面，其结果是倾斜的散光进行到相机，在一个暗的背景或视场上创造了明亮的点。

斜光光源照射下，PWB表面的刮痕被放大，形成黑白相间、分明的模型(靶标)，不利于与理想模型之间的对比。由于上述靶标检索和对位均由机器自动完成，一旦PWB靶标模型模糊，无法与理想模型对比，经常会批量性地导致PWB靶标检索异常产生，此时，需要人员手动利用鼠标进行对位，降低设备整体的运行效率。现有技术单一使用斜光光源照射PWB靶标，容易导致PWB表面刮痕被放大，形成黑白相间的影像，不利于于理想模型的对比，容易导致PWB靶标检索异常。其控制电路如图2所示，通过滑动变阻器(即图中标识的可变抵抗器10KΩ)来控制LED2+与LED2-之间的电压，达到控制LED灯亮度的目的。当Y1CE处于高电平状态时，关闭LED2+与LED2-间的输出电压；当Y1CE处于低电平时，LED2+与LED2-间的输出电压会滑动变阻器阻值的变化而变化。缺点是对于一个LED，一个控制电路只能控制一种亮度，因此，无法做到混合打光。

【发明内容】

本发明所要解决的技术问题在于提供一种液晶面板实装设备的影像检索方法，利用同轴光结合斜光的照射方式，用同轴光消除刮伤后的层次差别，在同轴光的基础上，再用斜光，凸显把划痕变成明亮的点，得到理想的检索模型。

本发明采用以下技术方案解决上述技术问题：

液晶面板实装设备的影像检索方法，包括如下步骤：

步骤10：液晶面板与PWB分别到达对应位置；

步骤20：同轴光开启，斜光关闭，摄取液晶面板的靶标；

步骤30：同轴光以另一种亮度开启，斜光开启，摄取PWB的靶标；

步骤40：PWB靶标和液晶面板靶标实现对位。

本发明的优点在于：结合两种打光方式，由于PWB表面有刮伤并未影响到其表面光泽度，故而在照射PWB靶标时，原照射液晶面板靶标的同轴光不关闭，可利用同轴光结合斜光的照射方式，用同轴光消除刮伤后的层次差别，在同轴光的基础上，再用斜光，凸显把划痕变成明亮的点，得到理想的检索模型，同时不影响到正常PWB靶标的检索。

【附图说明】

下面参照附图结合实施例对本发明作进一步的描述。

图1是液晶面板实装设备中靶标基准模型。

图2是液晶面板实装设备影像检索装置结构示意图。

图3是现有技术液晶面板实装设备的控制电路图。

图4是本发明流程示意图。

图5是本发明液晶面板实装设备的控制电路图。

图6是图5中开关电路板电路原理图。

【具体实施方式】

如图4所示，液晶面板实装设备的影像检索方法，包括如下步骤：

步骤10：液晶面板与PWB分别到达对应位置；

步骤20：同轴光开启，斜光关闭，摄取液晶面板的靶标；

步骤30：同轴光以另一种亮度开启，斜光开启，摄取PWB的靶标；

步骤40：PWB靶标和液晶面板靶标实现对位。