[发明专利]反射型液晶盒的倾角测定方法以及测定装置

权利要求书

1.一种反射型液晶盒的倾角测定方法，对反射型液晶盒的倾角进行测定，其特征在于，

从光源取出直线偏振分量的光，

以使该光的光轴形成与上述反射型液晶盒的法线倾斜的入射角的方式，对反射型液晶盒照射该偏振分量的光，

对被上述反射型液晶盒的反射层反射的光的与上述偏振分量成直角的方向的偏振分量中的光强度进行测定，而求出光强度反射率，

使用该光强度反射率、上述液晶的正常光折射率及异常光折射率、上述入射角、上述液晶的厚度、以及上述反射层的折射率，求出上述液晶的倾角。

2.根据权利要求1所述的反射型液晶盒的倾角测定方法，其特征在于，

上述反射型液晶盒在一个像素内包括多个畴，

上述液晶按上述畴向不同的方向倾斜，

上述光强度反射率包含上述反射型液晶盒的所有畴的面积中的、朝向倾角不与上述光轴平行的方向的畴的面积的比例而作为系数。

3.根据权利要求1所述的反射型液晶盒的倾角测定方法，其特征在于，

上述光轴与上述反射型液晶盒的法线所成的倾斜的入射角处于30度～80度的范围。

4.根据权利要求1所述的反射型液晶盒的倾角测定方法，其特征在于，

上述光强度反射率是将被上述反射型液晶盒反射的光的与上述偏振分量成直角的方向的偏振分量中的光强度，除以被上述反射型液晶盒反射的光的光强度而得到的。

5.根据权利要求1所述的反射型液晶盒的倾角测定方法，其特征在于，

上述光强度反射率是将被上述反射型液晶盒反射的光的与上述偏振分量成直角的方向的偏振分量中的光强度，除以被上述反射型液晶盒反射的光的与上述偏振分量成直角的方向的偏振分量中的光强度和被上述反射型液晶盒反射的光的与上述偏振分量平行的方向的偏振分量中的光强度的合计值而得到的。

6.根据权利要求1所述的反射型液晶盒的倾角测定方法，其特征在于，

使用作为波长的函数的上述液晶的正常光折射率以及异常光折射率的数据、上述入射角以及上述液晶的厚度，求出以液晶分子的倾角为参数的光强度反射率与波长的关系，

针对多个波长测定上述光强度反射率，并将其测定点代入上述关系，从而求出倾角。

7.一种反射型液晶盒的倾角测定装置，其特征在于，具备：

偏振镜，从光源取出直线偏振分量；

光轴设定部件，以使该光的光轴形成与反射型液晶盒的法线倾斜的入射角的方式，对反射型液晶盒照射该偏振镜的光；

检偏镜，取出被上述反射型液晶盒的反射层反射的光的与上述偏振分量成直角的方向的偏振分量；

检测器，对透过了上述检偏镜的光的光强度进行测定；以及

数据处理装置，根据由上述检测器检测的光强度，计算出光强度反射率，使用上述液晶的正常光折射率及异常光折射率、上述入射角、上述液晶的厚度、以及上述反射层的折射率，求出上述液晶的倾角。

8.根据权利要求7所述的反射型液晶盒的倾角测定装置，其特征在于，

还包括对透过了上述检偏镜的光进行分光的分光器，

上述数据处理装置使用作为波长λ的函数的上述液晶的正常光折射率及异常光折射率、上述入射角、以及上述液晶的厚度，以液晶分子的倾角为参数，求出光强度反射率与波长的关系，将针对多个波长测定的光强度反射率的测定点代入该关系，从而确定倾角。