[发明专利]沉积薄膜的方法无效

专利信息
申请号: 201010129477.1 申请日: 2010-03-23
公开(公告)号: CN101775591A 公开(公告)日: 2010-07-14
发明(设计)人: 李沅民;单洪青;林朝晖 申请(专利权)人: 福建钧石能源有限公司
主分类号: C23C16/50 分类号: C23C16/50;C23C16/30;H01L31/18
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 362000福建省泉州市*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 沉积 薄膜 方法
【权利要求书】:

1.一种沉积薄膜的方法,包括步骤:

提供反应室,所述反应室中间隔交替放置的电极板表面放置基板;

向所述反应室中通入混合反应气体;

采用脉冲输出射频功率的方式将所述反应气体激发为等离子体,在所述基板表面沉积薄膜。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述薄膜为非晶硅锗合金薄膜。

3.如权利要求2所述的方法,其特征在于:所述混合反应气体包括含硅气体、含锗气体和氢气。

4.如权利要求3所述的方法,其特征在于:所述含锗气体包括锗烷GeH4、四氟化锗GeF4、四氯化锗GeCl4中的一种或组合。

5.如权利要求3所述的方法,其特征在于:所述含硅气体包括硅烷、双硅烷、四氟化硅、二氯硅烷、氟化硅烷和三氯硅烷中的一种或其组合。

6.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述薄膜为非晶硅碳合金薄膜p层。

7.如权利要求6所述的方法,其特征在于:所述混合反应气体包括硅烷、乙烷、双硼烷、三甲基硼烷(TMB)和氢气。

8.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述混合反应气体的流量大于5升/分钟。

9.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述射频的频率包括0.1MHz~100MHz的范围。

10.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述脉冲输出方式的脉冲频率为0.1Hz~10KHz。

11.如权利要求10所述的方法,其特征在于:所述脉冲频率的占空比包括5%~50%的范围,时间平均功率密度为1~20mw/cm2

12.如权利要求1所述的方法,其特征在于:所述反应室是可大批量制造大面积薄膜太阳能电池的大型PECVD反应室。

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