[发明专利]一种粒径测量的有限分布积分反演算法有效
| 申请号： | 201010129738.X | 申请日： | 2010-03-19 |
| 公开（公告）号： | CN101793665A | 公开（公告）日： | 2010-08-04 |
| 发明（设计）人： | 曹章;徐立军;丁洁 | 申请（专利权）人： | 北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02;G06F19/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 100191*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 粒径 测量 有限 分布 积分 反演 算法 | ||
【说明书】：
【技术领域】
本发明涉及一种粒径测量的有限分布积分反演算法，属于颗粒粒度测量领域。
【背景技术】
目前利用激光衍射法测量粒径分布的积分反演算法一般采用Chin-Shifrin积分变换方法，设f(x)为粒子群的质量分布概率密度函数，则
其中颗粒参数x＝πD/λ，D为粒径，θ为衍射角，λ为波长，F为透镜焦距，I0为入射光强。
由于测量值I(θ)不可避免地带有噪声，公式(1)对含噪声的数据进行数值微分，不仅会放大噪声，而且是不适定性问题，从而会引起很大的误差。表现为在大粒径与小粒径分布范围内的反演结果出现不应有的过度震荡。
在专利“一种粒径测量的积分反演算法”中提出了一种新型积分反演算法(申请号：200810240158.0)，该算法通过Hankel变换和Scholmilch方程的解析解，得到了粒度分布的一种双积分形式反演表达式
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京航空航天大学，未经北京航空航天大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201010129738.X/2.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
