[发明专利]电子熔丝装置及其校正方法与操作电子熔丝装置的方法

说明书

技术领域

本发明是关于电子熔丝(efuse)装置，且特别是关于电子熔丝装置及其校正方法与操作电子熔丝装置的方法。

背景技术

现在，电子熔丝熔断(blow)是电子熔丝应用的重要操作，且其性能取决于熔断电压及熔断时间。每百万元件中的缺陷元件数(defectsparts per million，以下简称为DPPM)测试是电子熔丝应用中十分重要的课题。如果电子熔丝阵列的熔断条件并不稳定，那么熔断的电子熔丝的电阻值将会改变，所以其满足DPPM测试的结果，因此电子熔丝阵列的成品率(yield)将会降低。然而，在实践中，电子熔丝阵列的熔断条件并不能达到最佳控制。

因此，亟需提供一种电子熔丝装置与一种能够校正从电子熔丝阵列读取的数据的校正方法，从而改善电子熔丝阵列的成品率。

发明内容

为解决以上技术问题，本发明提供了一种电子熔丝装置及其校正方法与操作电子熔丝装置的方法。

本发明提供了一种电子熔丝装置，用于根据地址数据记录输入数据，所述电子熔丝装置包含：第一检查比特产生器，用于接收输入数据，并根据输入数据用预定错误校正码产生第一检查比特数据；程序设计单元，用于根据输入数据、地址数据及第一检查比特数据产生多个熔断信号；以及电子熔丝阵列，用于接收多个熔断信号及地址数据，其中输入数据及第一检查比特数据是根据多个熔断信号及地址数据被记录在电子熔丝阵列之中。

本发明提供了一种电子熔丝装置，用于根据地址数据记录输入数据，所述电子熔丝装置包含：第一检查比特产生器，用于接收输入数据，并根据输入数据用预定错误校正码产生第一检查比特数据；程序设计单元，耦接于第一检查比特产生器，用于根据输入数据、地址数据及第一检查比特数据产生多个熔断信号；电子熔丝阵列，用于根据多个熔断信号及地址数据将输入数据及第一检查比特数据记录在电子熔丝阵列之中；第二检查比特产生器，耦接于电子熔丝阵列，用于根据地址数据从电子熔丝阵列读取记录数据，并根据记录数据用预定错误校正码产生第二检查比特数据；征状产生器，耦接于第二检查比特产生器，用于根据第二检查比特数据产生校正数据；以及校正器，耦接于电子熔丝阵列与征状产生器，用于从电子熔丝阵列读取记录数据的第一部分，并用校正数据校正记录数据的第一部分以产生输出数据。

本发明提供了一种校正方法，用于校正电子熔丝装置，所述校正方法包含：提供输入数据；根据输入数据用预定错误校正码，产生第一检查比特数据；根据输入数据、地址数据及第一检查比特数据，产生多个熔断信号；根据多个熔断信号及地址数据，将输入数据及第一检查比特数据记录在电子熔丝阵列之中；根据地址数据，从电子熔丝阵列读取记录数据；根据记录数据用预定错误校正码，产生第二检查比特数据；根据第二检查比特数据，产生校正数据；以及用校正数据，校正记录数据的第一部分以产生输出数据，其中，记录数据的第一部分对应于输入数据。

本发明提供了一种操作电子熔丝装置的方法，所述方法包含：接收输入数据；根据输入数据用预定错误校正码，产生第一检查比特数据；将输入数据记录到电子熔丝装置之中；以及将第一检查比特数据记录在非易失性存储器中。

本发明提供的电子熔丝装置及其校正方法与操作电子熔丝装置的方法，用错误校正码校正从电子熔丝阵列读取的数据，提高了电子熔丝阵列的成品率。

附图说明

图1是根据本发明实施方式的电子熔丝装置的示意图。

图2是根据本发明实施方式在图1的电子熔丝装置中的程序设计单元的示意图。

图3是图2中的熔断使能信号WPL₁-WPL_n的示意图。

图4是图1的电子熔丝阵列及同位数据PD的布置的示意图。

图5是根据本发明图1的电子熔丝装置中的校正器的实施方式的示意图。

图6是根据本发明图1的电子熔丝装置中的校正器的另一实施方式的校正单元的示意图。

图7是根据本发明实施方式的电子熔丝装置的校正方法的流程图。

具体实施方式