[发明专利]具有倾斜侧面的铝镓铟磷系发光二极管的制作工艺无效

专利信息
申请号: 201010131562.1 申请日: 2010-03-19
公开(公告)号: CN101807647A 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 林素慧;蔡家豪;郑建森;林科闯 申请(专利权)人: 厦门市三安光电科技有限公司
主分类号: H01L33/20 分类号: H01L33/20
代理公司: 厦门原创专利事务所 35101 代理人: 徐东峰
地址: 361009 福建省厦*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 具有 倾斜 侧面 铝镓铟磷系 发光二极管 制作 工艺
【权利要求书】:

1.具有倾斜侧面的铝镓铟磷系发光二极管的制作工艺,包括下列步骤:

1)提供一衬底;

2)在衬底的顶面形成一分布布拉格反射层;

3)在分布布拉格反射层上形成第一型磊晶层;

4)在第一型磊晶层上形成发光层;

5)在发光层上形成第二型磊晶层;

6)在第二型磊晶层上形成P电极;

7)在衬底的底面形成N电极,构成一LED芯片;

8)采用干蚀刻方法沿上述LED芯片顶面至底面方向以倾斜角度切割其侧面;

9)再用激光对LED芯片的底面进行切割;

10)最后用钻石刀将LED芯片底部的侧面切穿,则在LED芯片的四周形成倾斜面。

2.如权利1所述的具有倾斜侧面的铝镓铟磷系发光二极管的制作工艺,其特征在于LED芯片的每个侧面的倾斜角度大于或等于20°、而小于或等于70°。

3.如权利要求1所述的具有倾斜侧面的铝镓铟磷系发光二极管的制作工艺,其特征在于:衬底材料选自砷化镓、磷化镓或前述组合。

4.如权利要求1所述的具有倾斜侧面的铝镓铟磷系发光二极管的制作工艺,其特征在于:分布布拉格反射层结构由折射率高低交替的堆叠材料层构成。

5.如权利要求1所述的具有倾斜侧面的铝镓铟磷系发光二极管的制作工艺,其特征在于:干蚀刻方法采用感应耦合等离子体蚀刻、反应离子蚀刻或前述的组合。

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