[发明专利]一种计量光线传输流通量的表无效

专利信息
申请号: 201010134305.3 申请日: 2010-03-29
公开(公告)号: CN102207405A 公开(公告)日: 2011-10-05
发明(设计)人: 王玄极 申请(专利权)人: 成都易生玄科技有限公司
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00;G01J1/42
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610041 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 计量 光线 传输 流通量
【权利要求书】:

1.本发明一种计量光线传输流通量的表,包括:光密介质、光疏介质、光伏材料、检测设备、计量设备,其特征在于:通过光线在光纤中传输,光线在同一介质中的传输速度是一个定值,光线在光纤的光密介质与光疏介质的分界面上出现的机率是相等的,根据光线在分界面上出现机率的相等性,用测量部分推算全部的方式,从光纤的光密介质与光疏介质的分界面上引出少量光线用于测量,进而达到测量整个光纤内部的光线通过量的目的;第一种测量方式是将光能通过光电效应,将光能转化为电能,光纤中光线通过量的变化,对应着光线在光纤的光密介质与光疏介质的分界面上出现机率的变化,从光纤的光密介质与光疏介质的分界面上引出少量光线用于测量,光线的变化对应着光能的变化,光能的变化对应着电能的变化,电流测量法:在光电效应过程中,通过检测设备,检测光能转化为电能过程中的电流变化,通过计量设备计量光线在光纤中的流通情况,电压测量法:在光电效应过程中,通过检测设备,检测光能转化为电能过程中的电压变化,通过计量设备计量光线在光纤中的流通情况;第二种测量方式是将光能通过光电效应,将光能转化为电能,电能转化为磁力,光纤中光线通过量的变化,对应着光线在光纤的光密介质与光疏介质的分界面上出现机率的变化,从光纤的光密介质与光疏介质的分界面上引出少量光线用于测量,光线的变化对应着光能的变化,光能的变化对应着电能的变化,电能的变化对应着磁力大小的变化,通过检测设备,检测磁力大小的变化,通过计量设备计量光线在光纤中的流通情况;第三种测量方式是将光能通过光电效应,将光能转化为电能,电能转化为动能,光纤中光线通过量的变化,对应着光线在光纤的光密介质与光疏介质的分界面上出现机率的变化,从光纤的光密介质与光疏介质的分界面上引出少量光线用于测量,光线的变化对应着光能的变化,光能的变化对应着电能的变化,电能的变化对应着动能的变化,通过检测设备,检测动能大小的变化,通过计量设备计量光线在光纤中的流通情况。

2.根据权利要求1所述一种计量光线传输流通量的表,其特征在于:从光纤的光密介质与光疏介质的分界面上的一处引出光线用于测量,叫单值测量法,从光纤的光密介质与光疏介质的分界面上的多处引出光线用于测量,叫多值测量法,多值测量法的测量精确度大于单值测量法。

3.根据权利要求1所述一种计量光线传输流通量的表,其特征在于:一种计量光线传输流通量的表的计量公式为:

Ic=2π×r×l×f(x)s×v×t]]>

Ic表示光的流通量,r表示光纤的光密介质半径,l表示光纤的标准单位长度,2π×r×l表示光纤的光密介质与光疏介质的分界面的单位环形面积,由于光线在光纤的光密介质与光疏介质的分界面上出现的机率相等,因此就用光纤的光密介质与光疏介质的分界面的单位环形面积取代光纤的光密介质的横截面积,s表示从光纤的光密介质与光疏介质的分界面上引出光线的面积,表示光强度,v表示光线在光纤中的传输速度,t表示恒定的时间长短,一种计量光线传输流通量的表的测量方式分为以下几种:第一种测量方式是将光能通过光电效应,将光能转化为电能,当以电流测量法测量时,f(x)就是电流的函数,函数包括测量数据、能量转化率等因素,还原用于测量光线的数据关系,当以电压测量法测量时,f(x)就是电压的函数,函数包括测量数据、能量转化率等因素,还原用于测量光线的数据关系;第二种测量方式是将光能通过光电效应,将光能转化为电能,电能转化为磁力,当以磁力测量时,f(x)就是磁力的函数,函数包括测量数据、能量转化率等因素,还原用于测量光线的数据关系;第三种测量方式是将光能通过光电效应,将光能转化为电能,电能转化为动能,当以动能测量时,f(x)就是动能的函数,函数包括测量数据、能量转化率等因素,还原用于测量光线的数据关系;f(x)处于不断变化的状态,Ic的计算采用微积分方式。

4.根据权利要求1所述一种计量光线传输流通量的表,其特征在于:(1)表示规则的光密介质,(2)表示光纤的光疏介质,(3)表示光纤的光密介质,(4)表示光线在光纤中的整体传输方向;按照统计的规律,光线在光纤中传输,光线到达光纤的光密介质与光疏介质的分界面的机率是相等的;规则的光密介质(1)是从光纤中导出少量光线用于测量光纤中传输光线的流通量,规则的光密介质(1)与光纤的光密介质(3)的夹角以光线在光纤中发生全反射的临界角度为参考基础;规则的光密介质(1)有两种结构,第一种是规则的光密介质(1)的外表面是光疏介质层,第二种是规则的光密介质(1)的外表面是具有反射面的反射层;有一个规则的光密介质(1),叫单值测量法,有多个规则的光密介质(1),叫多值测量法。

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