[发明专利]触控面板测试设备及其检测装置

说明书

技术领域

本发明是关于一种测试设备，尤指一种测试触控面板的设备，其是利用特殊的电路来检测触控面板上微小电容信号的测试设备。

背景技术

目前触控技术包括电阻式、电容式、红外线式、声波式、光学式、电磁感应式与数字式等。其中电阻式因为结构简单且成本具有优势，长期享有最高市占率，而表面电容式技术在耐受性、光学上的优势是电阻式无可比拟的，但是过去虽受限于专利限制，加上成本较高，所以其市占率始终不及电阻式，而近年来由于这些专利限制已过期可供社会大众使用，且受惠于光学技术的进步，因此将带来电容式普及的新契机。

综合上述，测试电容式触控面板的需求，有逐渐增加的趋势。然而，电容式触控面板的电容信号输出极微小(fF等级)且容易受到噪声干扰，所以需要能抵抗噪声及隔离电路中的杂散电容的电路系统来准确地感测该微小电容信号。

图1显示现有用来将触控面板的欲检测微小信号放大的电路的示意图，该电路是使用一放大器将欲检测的微小电容信号Vin放大，再于放大器的输入端耦接两个PN二极管作为静电放电(ESD)保护电路。但是PN二极管为一空穴型接面二极管，本身会形成微小电容(例如寄生电容(Parasitic Capacitor))，如此输出信号Vout无法从输入微小电容信号Vin中得知可靠的电容值，且因为PN二极管微小电容的影响将导致输出信号Vout变化容易受到输入信号Vin夹带的直流(DC)电压/电流干扰。图2显示另一现有电路的示意图，使用一电容Cbias，让节点电压Vg的电压与直流(DC)电压/电流无关，排除直流的影响，而可准确地检测输入信号Vin的变化。但是PN二极管仍会产生微小电容，电路依旧无法得到可靠的电容值。

有鉴于此，仍有必要开发新的检测微小电容信号的检测装置，能抵抗噪声及隔离电路中的杂散电容，可准确地感测该微小电容信号且适用于量测电容式触控面板的功能。

发明内容

针对上述问题，为了符合产业上的要求，本发明的目的是提供一种测试设备及其检测装置，可准确地感测该微小电容信号且适用于测量电容式触控面板的功能。

为了达到上述目的，根据本发明一方面提供一种测试设备，用以测试一触控面板的功能。该测试设备包含有多个传感器、一检测模块及一判断模块。这些传感器用以感测该触控面板的多个微小电容信号。该检测模块接收并处理该多个微小电容信号，以产生多个输出信号，且该检测模块包含有多个检测单元。每一该检测单元耦接一该传感器。该检测单元包含有一输入节点(Ng)、一运算单元、至少一补偿单元及至少一静电放电保护单元。该输入节点(Ng)接收该微小电容信号。该运算单元耦接该输入节点(Ng)，并处理或放大该过滤后的微小电容信号，以产生该输出信号。该补偿单元的第一端耦接该输入节点，且第二端用以接收一补偿信号。该静电放电保护单元，用以对该测试设备与该触控面板进行静电放电保护，且其第一端耦接一电源，第二端耦接该补偿单元的第二端并形成一第一节点。其中，该补偿信号于该第一节点产生的电压电平，等于该微小电容信号于该输入节点产生电压电平。该判断模块耦接该检测模块，且根据该多个输出信号判断该触控面板是否通过测试。

在本发明的实施例中，该至少一补偿单元可包含有：一第一补偿单元，其第一端耦接该输入节点且第二端用以接收一补偿信号；与一第二补偿单元，其第一端耦接该输入节点且第二端用以接收一补偿信号；以及，该至少一静电放电保护单元可包含有：一第一静电放电保护单元，其第一端耦接一第一电源，第二端耦接该第一补偿单元的第二端并形成一第一节点；与一第二静电放电保护单元，其第一端耦接一第二电源，第二端耦接该第二补偿单元的第二端并形成一第二节点。

根据本发明另一方面提供一种用以检测触控面板的检测装置，包含有一传感器以及一检测单元。该传感器用以感测该触控面板的一微小电容信号，该检测单元耦接该传感器。该检测单元包含有：一输入节点(NG)，接收该微小电容信号，于该输入节点产生一节点电压；一运算单元，处理或放大该微小电容信号，以产生一输出信号；至少一静电放电保护单元，耦接该输入节点，以执行静电放电保护功能；以及，至少一补偿单元，提供至少一等于该节点电压的反馈电压至该静电放电保护单元的另一端，以补偿该静电放电保护单元的杂散电容对该节点电压造成的影响。

本发明的有益技术效果是：本发明的测试设备及检测装置，可准确地感测该微小电容信号且适用于测量电容式触控面板的功能。

附图说明

图1显示现有信号放大技术的示意图。

图2显示改良图1的现有信号放大技术的示意图。