[发明专利]触控面板侦测电路有效

专利信息
申请号: 201010136380.3 申请日: 2010-03-30
公开(公告)号: CN101833406A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: 陈科宏;陈契霖;陈逸群;陈智崇;刘家麟;李怀安;莫启能 申请(专利权)人: 福建华映显示科技有限公司;中华映管股份有限公司
主分类号: G06F3/044 分类号: G06F3/044
代理公司: 福州市鼓楼区京华专利事务所(普通合伙) 35212 代理人: 翁素华
地址: 350015 福*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 面板 侦测 电路
【权利要求书】:

1.一种触控面板侦测电路,包括一侦测装置和一数字信号处理单元,其特征在于:还包括一电容侦测模拟电路和一电容侦测数字电路,所述侦测装置及电容侦测数字电路均与电容侦测模拟电路连接,所述电容侦测数字电路与数字信号处理单元连接,其中:

所述电容侦测模拟电路包括一第一电流镜、一第二电流镜、一开关模块和一等效电容,

所述第一电流镜包括:

一第一晶体管,所述第一晶体管的源极耦接于一直流电源,且该第一晶体管的漏极耦接于该第一晶体管的栅极与一触控面板所包含的一感应电容;及

一第二晶体管,所述第二晶体管的栅极耦接于第一晶体管的栅极,且该第二晶体管的源极系耦接于第一晶体管的源极;

所述第二电流镜包括:

一第三晶体管,所述第三晶体管的漏极耦接于第二晶体管的漏极,且该第三晶体管的栅极系耦接于该直流电源;

一第四晶体管,所述第四晶体管的栅极耦接于第三晶体管的栅极,且该第四晶体管的漏极耦接于第三晶体管的漏极,所述第四晶体管的宽长比是第三晶体管的宽长比的整数倍;及

一运算放大器,所述运算放大器的输入端耦接于第三晶体管的源极,且该运算放大器的输出端耦接于第四晶体管的源极;

所述开关模块耦接于第四晶体管的漏极;

所述等效电容的第一端耦接于第三晶体管的源极,且该等效电容的第二端耦接于一接地端。

2.如权利要求1所述的触控面板侦测电路,其特征在于:所述电容侦测模拟电路还包括:

一第一开关晶体管,所述第一开关晶体管的漏极耦接于第一晶体管的漏极;

一第一比较器,所述第一比较器的正输入端耦接于一参考电压,该第一比较器的负输入端耦接于第一开关晶体管的源极,且该第一比较器的输出端耦接于第一开关晶体管的栅极;

一第二开关晶体管,所述第二开关晶体管的漏极耦接于第一开关晶体管的源极,该第二开关晶体管的栅极耦接于一第一频率信号,且该第二开关晶体管的源极耦接于该感应电容的第一端;及

一第三开关晶体管,所述第三开关晶体管的栅极耦接于一第二频率信号,所述第二频率信号与该第一频率信号的相位是彼此相反的,所述第三开关晶体管的漏极耦接于第二开关晶体管的源极,且该第三开关晶体管的源极耦接于感应电容的第二端与该接地端。

3.如权利要求1所述的触控面板侦测电路,其特征在于:

所述开关模块系包括:

一第二比较器,所述第二比较器的一正输入端耦接于第四晶体管的漏极,且该第二比较器的一负输入端耦接于一第一参考电位;

一第三比较器,所述第三比较器的一正输入端耦接于一第二参考电位,且该第三比较器的一负输入端耦接于第二比较器的该正输入端;及

一D正反器,所述D正反器的设定端耦接于第二比较器的一输出端,且该D正反器的重置端耦接于第三比较器的一输出端;

所述电容侦测模拟电路还包括:

一第四开关晶体管,所述第四开关晶体管的栅极耦接于D正反器的一正输出端,且该第四开关晶体管的源极耦接于该接地端;及

一电阻,所述电阻的第一端耦接于第四晶体管的漏极,且该电阻的第二端耦接于第四开关晶体管的漏极。

4.如权利要求1所述的触控面板侦测电路,其特征在于:所述电容侦测数字电路系包括一控制电路和一脉冲宽度至数字转换模块,

所述控制电路包括一第一计数器、一第二计数器和一时序控制单元,所述第一计数器与第二计数器连接,且所述第一计数器与第二计数器均与时序控制单元连接;

所述脉冲宽度至数字转换模块包括:

一第一及逻辑闸,所述第一及逻辑闸的一第一输入端耦接于时序控制单元,且该第一及逻辑闸的一第二输入端耦接于一输出信号;

一累加单元,所述累加单元的一第一输入端耦接于第一及逻辑闸的输出端,且该累加单元的一第二输入端耦接于该第一频率信号;及

一第二及逻辑闸,所述第二及逻辑闸的一第一输入端耦接于累加单元的一第一输出端,且该第二及逻辑闸的一第二输入端耦接于时序控制单元。

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