[发明专利]用GTEM小室测试天线增益的方法

权利要求书

1.一种用GTEM小室测试天线增益的方法，其特征在于，包括步骤：

A、将待测天线摆放在GTEM小室中的特制非金属转台上，连接GTEM小室端口到射频信号发生器，并通过电缆将待测天线输出端口与频谱仪连接；

B、接通端口的射频信号发生器，将转台沿Y轴旋转一周，通过频谱仪测量天线在此过程中的接收功率值，找出接收最大时的位置，在此最大位置上再沿X轴旋转一周，通过频谱仪测量天线在此过程中的接收功率，功率最大时的位置即为此天线的最大接收方向；

C、根据所测得的待测天线在一定输入功率下的最大接收功率值，即可将此值代入本方法所提出的公式中计算天线的增益。

2.根据权利要求1所述的用GTEM小室测试天线增益的方法，其特征在于，所述的待测天线放置在所述GTEM小室的中板与底板之间的1/3～2/3区域内。

3.根据权利要求2所述的用GTEM小室测试天线增益的方法，其特征在于，需要得到待测天线所有方向中的最大接收功率。

4.根据权利要求3所述的用GTEM小室测试天线增益的方法，其特征在于，待测天线的最大接收功率的测定是通过对特定转台进行两次旋转得到的。

5.根据权利要求4所述的用GTEM小室测试天线增益的方法，其特征在于，特定转台是由非金属材料构成的，它可以沿y轴做360度旋转，而且在绕y轴旋转的任何位置上，都可以再绕x轴做360度旋转。

6.根据权利要求5所述的用GTEM小室测试天线增益的方法，其特征在于，根据所测出的天线最大接收功率值，用以下所述法计算待测天线的增益：

G＝10lgP_out-10lgP_in+10lgh-20lgλ+19.76

式中，P_out是待测天线的接收功率，P_in是GTEM小室的输入功率，h是测量点处中板到底板间的距离，λ是波长。