[发明专利]一种利用双缝干涉法测量偏振态的装置及方法有效
| 申请号： | 201010137833.4 | 申请日： | 2010-03-30 |
| 公开（公告）号： | CN101846553A | 公开（公告）日： | 2010-09-29 |
| 发明（设计）人： | 白云峰;董娟;李艳秋 | 申请（专利权）人： | 北京理工大学 |
| 主分类号： | G01J4/00 | 分类号： | G01J4/00 |
| 代理公司： | 北京理工大学专利中心 11120 | 代理人： | 张利萍 |
| 地址： | 100081 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 利用 干涉 测量 偏振 装置 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种利用双缝干涉法测量偏振态的装置，其特征在于包括偏振片(1)、挡光板(2)和CCD探测器(3)；其中挡光板(2)上有两条狭缝，除了挡光板(2)上的两条狭缝外，挡光板(2)上的其余部分完全不透光；沿光路方向依次为偏振片(1)、挡光板(2)和CCD探测器(3)。
2.一种利用双缝干涉法测量偏振态的方法，其特征在于其具体步骤为：
1)将偏振片(1)覆盖在挡光板(2)的一条狭缝上，然后沿光路方向依次固定挡光板(2)和CCD探测器(3)；
2)平行入射光照射在挡光板(2)上，平行入射光透过挡光板(2)上的两条狭缝在CCD探测器(3)成像，形成干涉条纹；
3)根据相干理论，推导CCD探测器(3)上任意点如P点光强表达式如式(1)：
4)在步骤2)得到的干涉条纹中任取一段根据步骤3)中的式(1)进行拟合，得到平行入射光的偏振态。
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