[发明专利]显示面板及显示装置无效
申请号: | 201010138474.4 | 申请日: | 2010-03-22 |
公开(公告)号: | CN101847343A | 公开(公告)日: | 2010-09-29 |
发明(设计)人: | 中村和夫;内野胜秀;浅井伸利;佐川裕志 | 申请(专利权)人: | 索尼公司 |
主分类号: | G09F9/30 | 分类号: | G09F9/30;G09G3/20;G09G3/30;H01L27/32 |
代理公司: | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人: | 王安武;南霆 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 显示 面板 显示装置 | ||
技术领域
本发明涉及包括发光元件的显示面板以及包括该显示面板的显示装置。
背景技术
近来,在对图像进行显示的显示装置领域,已经研发出如下所述的一种显示装置并使其逐步商业化,该显示装置利用诸如有机EL(场致发光)元件之类电流驱动型光学元件(其发光亮度根据流动的电流值而变化)作为像素的发光元件。与液晶元件等不同,该有机EL元件是自发光元件。因此,在使用有机EL元件的显示装置(有机EL显示装置)中无需光源(背光),由此相较于需要光源的液晶显示装置,可以使显示装置更薄、亮度更高。具体而言,在采用主动矩阵法作为驱动方法的情况下,能够点亮并保持各个像素,并能够实现较低的功耗。因此,预期有机EL显示装置将成为下一代平板显示器的主流。
但是,在有机EL元件中,存在元件会根据供应电流值而劣化由此亮度降低的问题。因此,在使用有机EL元件作为显示装置中的像素的情况下,存在各个像素的劣化程度不同的情况。例如,在同一位置长期高亮度地显示时间或显示频道等信息的情况下,仅相应的像素会迅速劣化。因此,当在包含迅速劣化的像素的部分中显示高亮度视频的情况下,会产生所谓“烧坏(burning)”现象,即仅在像素迅速劣化的部分中显示变暗。因为烧坏的不可逆性,当发生烧坏时,就不能够再消除烧坏。
目前已经提出了大量防止烧坏的方法。例如,在日本未审查的专利公开号Hei11-26055中揭示了一种方法,其中将连续固定显示的图像以预定的间隔反转,或者进行移位显示。在日本未审查的专利公开号2002-351403中揭示了一种方法,其中将伪像素设置在显示区域之外的其他区域中,通过检测伪像素发光时的端子电压来估计伪像素的劣化程度,并利用该估计结果来校正视频信号。
发明内容
但是,在日本未审查的专利公开号Hei11-26055中,尽管以预定间隔反转图像的方法对单色显示器奏效,但在彩色显示器中存在反转图像完全不同于原始图像的问题,因此难以将该方法应用于执行彩色显示的显示装置。此外,在日本未审查的专利公开号Hei11-26055中,在图像以预定间隔移位的方法中,因为显示位置发生移位,故存在对于静态图像显示器而言该方法不适用的问题。在日本未审查的专利公开号2002-351403的方法中,并未基于显示区域中的像素的发光信息来估计像素的劣化程度,故难以准确地校正视频信号。因此,存在难以防止烧坏的问题。
着眼于此,希望提供一种能够在彩色显示器及静态图像显示器中减少烧坏的显示面板,以及包括该显示面板的显示装置。
根据本发明的实施例,提供了一种第一显示面板,其包括多个像素电路,其在基板上形成为矩阵;绝缘层,其覆盖所述多个像素电路;以及多个发光元件,其连接至所述多个像素电路,并在所述绝缘层上布置为矩阵。第一显示面板包括过滤层,其包括至少位于面向所述发光元件的区域的一部分中的透光部分、以及与所述透光部分形成在同一平面中的遮光部分,并且相对于所述发光元件形成在与所述像素电路相反的一侧。此外,第一显示面板包括:光反射部分,其形成在面向所述遮光部分的区域中,并位于所述发光元件与所述过滤层之间;以及光接收元件,其形成在面向所述遮光部分的区域中,并相对于所述发光元件位于所述像素电路一侧。
根据本发明的实施例,提供了一种第一显示装置,包括:显示面板;以及驱动电路部分,其驱动所述显示面板。安装在第一显示装置的所述显示面板包括:多个像素电路,其在基板上形成为矩阵;绝缘层,其覆盖所述多个像素电路;多个发光元件,其连接至所述多个像素电路,并在所述绝缘层上布置为矩阵;过滤层,其包括至少位于面向所述发光元件的区域的一部分中的透光部分、以及与所述透光部分形成在同一平面中的遮光部分,并且相对于所述发光元件形成在与所述像素电路相反的一侧;光反射部分,其形成在面向所述遮光部分的区域中,并位于所述发光元件与所述过滤层之间;以及光接收元件,其形成在面向所述遮光部分的区域中,并相对于所述发光元件位于所述像素电路一侧。
在根据本发明的实施例的第一显示面板及第一显示装置中,光反射部分设置在面向遮光部分的区域内,并位于发光元件与过滤层之间。此外,光接收部分设置在面向遮光部分的区域内,并相对于发光元件位于像素电路一侧。由此,从发光元件发出的光的一部分被光反射部分反射,并进入光接收元件。因此,在光接收元件中吸收的光可根据所吸收的光的输出水平而被转换为电信号(光电流)。因此,能够通过利用电信号来测量发光元件的光输出水平,并能够估计发光元件的劣化程度。
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