[发明专利]对装配过程进行光学检查的装置

权利要求书

1.一种装置，用于对在传统装配装置(BA)中的、尤其是在用于给基板(LP1，LP2)装配电子元件的自动装配机中的装配过程进行光学检查，其特征在于，用于光学检查(AOI)的门架和移动式数据处理单元(DV)这样地集成在所述装配装置(BA)中，从而用于所述光学检查(AOI)的所述门架设计替代了至少一个装配门架(P，KS1，BK)或者作为附加的门架；而且在所述装配装置(BA)的设计用于供给装置(ZF)的位置空间上安装了所述移动式数据处理单元(DV)，所述移动式数据处理单元设计用来控制用于光学检查(AOI)的所述门架，并对用于所述光学检查(AOI)的所述门架的数据进行分析评估。

2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，用于所述光学检查(AOI)的所述门架包括：用于安装在所述装配装置(BA)中的模块化门架单元(MP)；用于与所述装配装置(BA)连接的卷绕电缆(KS2)；和所谓的AOI装置(AK)，所述AOI装置可至少在一个方向(Y)上移动地安装在模块化门架(MP)上。

3.根据权利要求2所述的装置，其特征在于，所述AOI装置(AK)包括至少一个摄相机或者至少一个扫描器，用于对所述基板进行光学检查。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的装置，其特征在于，通过所述装配装置(BA)的直线电机实现所述AOI-装置(AK)的驱动。

5.根据权利要求1至4中任一项所述的装置，其特征在于，设有由所述装配装置(BA)提供的接口(S)，用于将用于所述光学检查(AOI)的所述门架与所述数据处理单元(DV)连接起来。

6.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，所述数据处理单元(DV)设计用于除了控制用于所述光学检查(AOI)的第一门架之外，还至少控制用于所述光学检查(AOI)的第二门架。

7.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，设有第二接口，通过所述第二接口可以实现集成在所述装配装置(BA)的台站软件中或者集成在装配线的装配线软件中。

8.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，所述数据处理单元(DV)除了主处理器和存储器单元之外，还具有控制单元和可视化单元。

9.根据前述权利要求中任一项所述的装置，其特征在于，提供一种在所述装配装置(BA)之外的应用用于维护、优化、测试-和/或编程目的。