[发明专利]用于感测目标的光电传感器有效
申请号: | 201010139283.X | 申请日: | 2010-03-17 |
公开(公告)号: | CN101840004A | 公开(公告)日: | 2010-09-22 |
发明(设计)人: | 汪健华;廖建勇 | 申请(专利权)人: | 洛克威尔自动控制技术股份有限公司 |
主分类号: | G01V8/10 | 分类号: | G01V8/10;G01B11/00;G01B11/24;G01N21/49;G01J3/46 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 朱胜;陈炜 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 目标 光电 传感器 | ||
1.一种光电传感器,包括:
发射部,用于朝向目标发射光;
接收部,其包括接收透镜,用于通过所述接收透镜接收反射光,该反射光是由所述目标和反射器中之一反射的发射光中的至少一些;
折射块,其具有块第一表面和块第二表面,其中,通过所述接收透镜接收的反射光在穿过所述折射块时被所述表面中的至少一个折射;以及
光电检测器,用于接收由所述折射块折射的反射光,并且提供检测信号,该检测信号指示由所述光电检测器接收到的反射光。
2.如权利要求1所述的光电传感器,其中所述发射部包括发光二极管(LED)光源,其中所述发射部包括发射透镜,该发射透镜在从光源发射的光被所述目标接收之前对所述光进行折射,并且其中所述发射部和所述接收部位于单个壳体内。
3.如权利要求1所述的光电传感器,其中,所述接收透镜具有接收前表面和接收后表面,并且所述光电检测器具有检测表面,并且所述检测表面基本上平行于所述接收前表面。
4.如权利要求1所述的光电传感器,其中所述块第一表面基本上平行于所述光电检测器的检测表面,其中所述块第二表面相对于所述块第一表面以大约5度和大约85度之间的角度定位,其中所述反射光由所述块第一表面和所述块第二表面两者折射,并且其中所述折射块包括光学丙烯酸材料、聚苯乙烯和聚碳酸酯材料中的至少一种。
5.如权利要求1所述的光电传感器,其中所述光电检测器安装到印刷电路板,并且其中电磁干扰(EMI)屏蔽位于所述印刷电路板前面,以至少部分地防止EMI到达所述光电检测器。
6.如权利要求1所述的光电传感器,进一步包括壳体,所述壳体具有位于所述折射块和所述光电检测器之间的壳体孔径,所述壳体孔径能够限制和/或防止所述反射光的至少一部分被传送到所述光电检测器。
7.如权利要求1所述的光电传感器,其中所述传感器能够感测来自具有小至大约0.1毫米直径的目标的反射光,其中所述光电传感器为散射反射类型,其能够感测处在大约1mm至大约130mm的范围内的距离处的目标,并且其中当所述目标为90%反射并且位于与所述接收透镜相距大约23mm至大约33mm的范围内的距离时,裕量值至少为500。
8.一种散射类型的光电传感器,包括:
发射部,用于朝向目标发射光,所述发射部包括发光二极管(LED)光源和发射透镜;
接收部,其包括接收透镜,用于通过所述接收透镜接收反射光,该反射光是由所述目标反射的发射光中的至少一些;
折射块,其位于所述接收部中,具有块第一表面和块第二表面,其中,通过所述接收透镜接收的反射光在穿过所述折射块时被所述块第一表面和所述块第二表面中的至少一个折射;
壳体,用于至少部分地包围所述发射部、所述接收部和所述折射块;
光电检测器,用于接收由所述折射块折射的反射光,并且提供检测信号,该检测信号指示接收到的反射光;
壳体孔径,其形成为所述壳体的部分,并且位于所述折射块和所述光电检测器之间;以及
电磁干扰(EMI)屏蔽,其基本上位于所述光电检测器和所述壳体之间。
9.如权利要求8所述的光电传感器,其中,所述光电检测器具有检测表面,所述块第一表面基本上平行于所述检测表面,并且所述块第二表面相对于所述块第一表面成夹角定位,并且
其中,所述反射光在由所述光电检测器接收之前被所述块第一表面和所述块第二表面两者折射。
10.一种用于感测目标的方法,包括:
从位于发射部中的光源朝向目标发射光;
通过接收透镜接收反射光,该反射光是由所述目标反射的发射光中的至少一些;
在折射块处接收来自所述接收透镜的反射光,所述折射块包括块第一表面和块第二表面;
使用所述块第一表面和所述块第二表面中的至少一个来折射反射光;
在光电检测器表面处接收来自所述块第二表面的反射光;以及
生成信号,该信号指示在所述光电检测器表面处接收到的反射光。
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