[发明专利]芯片测试仪及其测试方法

权利要求书

1.芯片测试仪，包括

壳体，所述壳体的一个侧壁上设有自侧壁向外延伸的检测针，所述壳体上还设有检测结果显示装置；

所述壳体内设有一电路板，所述电路板上设有第一检测单元，所述第一检测单元具有向所述检测针输出检测信号的微控制器以及与所述微控制器连接的存储器，所述存储器存储有预设数据；

其特征在于：

所述电路板上还设有第二检测单元，所述第二检测单元包括一频率比较器，所述频率比较器的一个输入端与所述检测针连接，另一输入端连接有频率发生器。

2.根据权利要求1所述的芯片测试仪，其特征在于：

所述频率发生器为所述微控制器或LC振荡电路或石英晶体。

3.根据权利要求1或2所述的芯片测试仪，其特征在于：

所述频率发生器的输出端连接所述微控制器。

4.根据权利要求1或2所述的芯片测试仪，其特征在于：

所述频率发生器的输出端连接所述检测结果显示装置。

5.根据权利要求1或2所述的芯片测试仪，其特征在于：

所述检测针包括至少一根第一检测针以及与所述频率比较器的输入端连接的至少一根第二检测针。

6.根据权利要求1或2所述的芯片测试仪，其特征在于：

所述壳体具有自侧壁向外延伸的底板，所述底板上方设有墨盒安装座，所述安装座正对所述检测针设置。

7.如权利要求1所述芯片测试仪的测试方法，包括

所述微控制器通过所述检测针输出第一检测信号，待接收到第一反馈信号后，判断所述第一反馈信号所表示的数据是否与所述预设数据一致，并向所述检测结果显示装置输出检测结果；

其特征在于：

所述微控制器通过所述检测针输出第二检测信号，待接收到第二反馈信号后，将第二反馈信号输入至所述频率比较器，所述频率比较器判断所输入的频率是否在所述频率发生器所输出频率的一定误差范围内，并输出检测结果。

8.根据权利要求7所述的测试方法，其特征在于：

所述检测针包括至少一根第一检测针以及与所述频率比较器的输入端连接的至少一根第二检测针；

所述微控制器同时向所述第一检测针输出第一检测信号及向所述第二检测针输出第二检测信号。