[发明专利]半导体装置及其驱动方法、CPU、图像处理电路及电子装置有效

专利信息
申请号: 201010143870.6 申请日: 2004-04-05
公开(公告)号: CN101814513A 公开(公告)日: 2010-08-25
发明(设计)人: 小山润 申请(专利权)人: 株式会社半导体能源研究所
主分类号: H01L27/12 分类号: H01L27/12
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 李家麟
地址: 日本神奈*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 半导体 装置 及其 驱动 方法 cpu 图像 处理 电路 电子
【权利要求书】:

1.一种半导体装置,包括:

在绝缘表面上形成并包括薄膜晶体管的逻辑电路,该薄膜晶体管 包括:

第二栅电极;

在所述第二栅电极上的半导体薄膜;和

在所述半导体薄膜上的第一栅电极;

检测装置,用于在所述逻辑电路的待机模式和激活模式之间作出 区分;和

阈值控制电路,对所述第二栅电极施加阈值控制信号,以降低待 机模式的漏泄电流至低于激活模式的漏泄电流,

其中,所述检测装置包括:

地址存储器;

地址比较电路,配置成对存储在所述地址存储器中的地址数 据和通过地址总线输入所述地址比较电路的地址数据进行比较;

计数器,配置成对所述地址比较电路的输出进行计数;

复位信号发生电路,配置成向所述计数器输入复位信号;

判断基准值存储器;以及

判断电路,配置成对所述计数器的输出和所述判断基准值存 储器的数据进行比较,

其中,所述阈值控制电路依据所述判断电路工作,

其中,所述第一栅电极被施加以逻辑信号,

其中,所述薄膜晶体管的阈值随所述第二栅电极的电位而改变, 以及

其中,所述半导体装置包括独立地控制多个电路的多个阈值控制 电路。

2.根据权利要求1所述的半导体装置,

其中,所述检测装置检测所述逻辑电路的工作频率,并将检测结 果输出给所述阈值控制电路。

3.根据权利要求1所述的半导体装置,

其中,流过所述薄膜晶体管的源电极和漏电极之间的电流量受所 述阈值控制信号的控制。

4.根据权利要求1所述的半导体装置,

其中,当所述薄膜晶体管处于待机模式时所述阈值控制电路输出 所述阈值控制信号到所述逻辑电路以增加所述薄膜晶体管的阈值。

5.一种中央处理器,包括:

在绝缘表面上形成并包括薄膜晶体管的逻辑电路,该薄膜晶体管 包括:

第二栅电极;

在所述第二栅电极上的半导体薄膜;和

在所述半导体薄膜上的第一栅电极;

检测装置,用于在所述逻辑电路的待机模式和激活模式之间作出 区分;和

阈值控制电路,对所述第二栅电极施加阈值控制信号,以降低待 机模式的漏泄电流至低于激活模式的漏泄电流,

其中,所述检测装置包括:

地址存储器;

地址比较电路,配置成对存储在所述地址存储器中的地址数 据和通过地址总线输入所述地址比较电路的地址数据进行比较;

计数器,配置成对所述地址比较电路的输出进行计数;

复位信号发生电路,配置成向所述计数器输入复位信号;

判断基准值存储器;以及

判断电路,配置成对所述计数器的输出和所述判断基准值存 储器的数据进行比较,

其中,所述阈值控制电路依据所述判断电路工作,

其中,所述第一栅电极被施加以逻辑信号,

其中,所述薄膜晶体管的阈值随所述第二栅电极的电位而改变, 以及

其中,所述中央处理器包括独立地控制多个电路的多个阈值控制 电路。

6.根据权利要求5所述的中央处理器,

其中,所述检测装置检测所述逻辑电路的工作频率,并将检测结 果输出给所述阈值控制电路。

7.根据权利要求5所述的中央处理器,

其中,流过所述薄膜晶体管的源电极和漏电极之间的电流量受所 述阈值控制信号的控制。

8.根据权利要求5所述的中央处理器,

其中,当所述薄膜晶体管处于待机模式时所述阈值控制电路输出 所述阈值控制信号到所述逻辑电路以增加所述薄膜晶体管的阈值。

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