[发明专利]一种利用多缝衍射法测量偏振态的装置及方法

权利要求书

1.一种利用多缝衍射法测量偏振态的方法，其特征在于其具体步骤为：

1）将偏振片（1）覆盖二元光栅（3）的一部分，然后沿光路方向依次固定 偏振片（1）、二元光栅（3）、凸透镜（4）和CCD探测器（5）；

2）平行入射光照射在二元光栅（3）上，平行入射光透过二元光栅（3）在 CCD探测器（5）成像，形成衍射条纹；

3）根据衍射理论，推导CCD探测器（5）上任意点P点光强表达式如式（1）：

I(p)31.aD2Ncos2θ+2-2coskasinθk2sin2θ1-cosNβ1-cos2β[14(c1Ex)2+34(c1Ey)2+(c2Ey)2+(c2Ex)2+32+32c1c2Ey2cos(k(L1-L2))+12c1c2Ex2cos(k(L1-L2))c12ExEycosα+3c1c2ExEycos(k(L1-L2))cosα---(1)]]>

其中θ为r与z轴夹角，光栅缝宽为a，缝间距为d，光栅距透镜距离为D， I₀为入射光中等效成自然光强度，总狭缝数为N，c₁和c₂为常数且c₁＝2c₂，E_x为 x方向电场矢量强度，E_y为y方向电场矢量强度，α为E_x相对于E_y的位相差；

4）在步骤2）得到的衍射条纹中任取一段根据步骤3）中的式（1）进行拟 合，得到平行入射光的偏振态。