[发明专利]一种质量比较仪真空罩起吊装置及其应用

说明书

技术领域

本发明属于计量领域，尤其涉及一种高准确度砝码质量测量实验中用到的质量比较仪真空罩的起吊装置，特别是E₁等级及以上1kg砝码质量测量实验中用到的质量比较仪真空罩的起吊装置。

背景技术

在高准确度砝码质量测量实验中，特别是E₁等级及以上1kg砝码质量测量实验中需要用到最大称量范围为1kg、分辨率至少达到0.1μg的质量比较仪进行质量测量。该实验需要在真空环境下进行，通常会采用真空罩来实现真空环境。采用的真空罩为圆柱形腔体，直径超过600mm，高度约为800mm，由不锈钢制成，壁厚接近10mm，由上下两部分构成，质量比较仪固定在真空罩下部。实验时，将砝码放入质量比较仪的称量工位上，将真空罩的上下部闭合，利用真空泵将真空腔体抽至真空状态，然后进行质量测量实验。因此，成功完成一次质量测量实验，至少需要将真空罩的上部起吊两次，起吊高度至少为750mm。真空罩上部由不锈钢制成，重量超过100kg，不能人工手动抬起，需要配备专用的起吊装置。国外的真空罩起吊采用了龙门起吊装置，需要定制专用的小型起吊装置，且需要安置在大空间中，不但设备昂贵且对实验的空间要求高，不适应国内质量测量实验的需求。而国内的真空罩起吊通常采用配重加上手动操作的方式，即在滑轮吊绳一侧加有重量相当的配重，需要起吊时，人工抬起真空罩上部，实现起吊。由于真空罩本身为偏心结构，采用配重加上人工操作的方式可控性差，起吊方向和起吊速度难以把握，速度不均匀或者起吊方向不垂直，均可能造成真空罩上部偏移，一旦触及真空罩内的高精度质量比较仪，会造成质量比较仪损坏甚至报废，经济损失非常大。且下落的时候，由于人工手动操作，速度和方向难以把握，不能精确下落到与真空罩下部匹配的位置，且可能会对真空罩下部造成冲击，损坏真空罩设备。

发明内容

本发明为了解决现有技术中存在的技术问题，针对技术现状，本发明提出一种高准确度质量比较仪真空罩起吊装置，本发明其结构紧凑、占用空间小，抬起和下落的速度、方向可调，可保证真空罩上部垂直运动，不会损坏真空罩内的高精度质量比较仪，也不会对真空罩造成损伤。

本发明采用的技术方案如下，

一种质量比较仪真空罩起吊装置，包括真空罩、质量比较仪、实验台；所述真空罩包括上下两部分，所述质量比较仪固定在真空罩下部内；所述真空罩固定在所述实验台上，

起吊装置还包括外部框架和一组起吊部件；所述起吊部件包括滑轮组，钢丝绳和动力上提单元；所述真空罩设置在所述外部框架内；所述起吊部件中的滑轮组固定安装在所述外部框架上，其中一个滑轮设置在所述真空罩上部顶端的正上方的外部框架上，所述钢丝绳一端与所述真空罩上部顶端连接，另一端通过滑轮组与所述动力上提单元连接；所述动力上提单元通过滑轮组和钢丝绳完成对所述真空罩上部上提的过程。

为了完成真空罩上体，所述动力上提单元包括手动棘轮结构，其包括手柄和棘轮；所述手动棘轮结构中还包括配重块篮，且在所述配重块篮中放置相应的重物；所述配重块篮通过钢丝绳绕在所述手动棘轮上。通过手摇调节上升、下落速度，使真空罩上部的抬起、下落速度平稳、可调，增加了操作的可靠性，避免了下落冲击。其中动力上提单元还可以采取电动装置，如电机，完成真空罩上提工作。

在所述真空罩上部顶端上设置有吊环，所述钢丝绳一端固定在吊环内；

为了将真空罩上下两部分密封，所述真空罩上、下两部分壁上均有法兰边缘，真空罩上部的上法兰边缘包容真空罩下部的下法兰边缘，所述两个法兰采用法兰密封扣合连接；

在所述上、下法兰内部设置有内螺纹孔组，且沿着法兰边缘圆周均布，上下法兰的内螺纹孔位置垂直对应.

为了实现发明目的中所述的保证真空罩上部垂直运动，不会损坏真空罩内的高精度质量比较仪，也不会对真空罩造成损伤.所述起吊装置还包括一组导向部件，所述导向部件包括至少2根导向杆；所述导向杆设置在所述真空罩外，用于控制真空罩上部垂直上提。

本发明一种实施例采用，所述导向杆设置在所述内螺纹孔组中，用于控制真空罩上部垂直上提；所述导向杆的螺纹端从扣合的真空罩上部的法兰边缘的螺纹孔向下旋入，直至所述导向杆螺纹端的端面与真空罩下部法兰边缘的下表面平齐。

在具体的实施中，所述导向部件包括3根导向杆，沿法兰圆周均匀分布设置在所述上、下法兰的一组内螺纹孔中；每根导向杆一端有外螺纹，螺纹长度与真空罩下部法兰边缘的厚度相同，外螺纹规格为M8，导向杆无螺纹部分的直径为5mm～7mm；