[发明专利]一种采用准光学技术的星载双极化毫米波辐射计

权利要求书

1.一种采用准光学技术的星载双极化毫米波辐射计，该辐射计包含：由一个抛物线型天线反射面、馈源、波导极化分离器和两个毫米波接收机；其特征在于，

所述的天线反射面还包含一个平面二次反射面，该平面二次反射面用于将极化分离后的水平或垂直极化波反射至一毫米波接收机；

所述的极化分离器采用准光学极化栅网，该极化栅网由平行分布的金属丝固定在金属框架上形成，且g＜＜λ/2，d＜g，其中g表示相邻金属丝之间的间距，d表示金属丝直径，λ表示入射波波长；

所述的极化分离器位于所述的平面二次反射面的下方，且所述的极化分离器所在的平面与水平面成一定夹角，该夹角范围为：30°～60°。

2.根据权利要求1所述的星载双极化毫米波辐射计，其特征在于，所述的一次反射面和二次反射面的材料选用LY12铝合金。

3.根据权利要求1所述的星载双极化毫米波辐射计，其特征在于，所述的平行分布的金属丝采用钼丝，且该钼丝间距小于二分之一入射波的波长。

4.根据权利要求1所述的星载双极化毫米波辐射计，其特征在于，所述的金属框架为圆形或正方形。

5.根据权利要求1所述的星载双极化毫米波辐射计，其特征在于，所述的毫米波接收机具体包含：射频放大器、混频器、中频放大器、滤波器、检波器、积分器和低频放大器。