[发明专利]用于对电子装置的处理过程进行控制的方法和装置

权利要求书

1.一种用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，包括：

获取与多个测试设备对所述电子装置进行测试的测试结果相关联的控制位，其中，所述多个测试设备中的每一个测试设备对所述电子装置进行一系列测试并根据其进行的一系列测试的测试结果对与其进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位进行设置；以及

根据与所述多个测试设备中的每一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位来判断是否禁止对所述电子装置进行下一步处理。

2.根据权利要求1所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，如果与所述多个测试设备中的一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位指示在所述一个测试设备对所述电子装置进行一系列测试的过程中所述电子装置经历的失败测试的数目超过了与所述一个测试设备相关联的预定阈值，则禁止对所述电子装置进行下一步处理。

3.根据权利要求1所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，与所述多个测试设备中的一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位包括指示以下内容的一个或多个指示位：所述一个测试设备未对所述电子装置进行任何测试、所述一个测试设备未完成对所述电子装置的所有测试、所述电子装置通过了所述一个测试设备的测试、或者所述电子装置没有通过所述一个测试设备的测试。

4.根据权利要求3所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，如果与所述一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的控制位指示所述电子装置通过了所述一个测试设备的测试、且在所述一个测试设备对所述电子装置进行一系列测试的过程中所述电子装置经历的失败测试的次数未超过与所述一个测试设备相关联的预定阈值，则不禁止对所述电子装置进行下一步处理，否则禁止对所述电子装置进行下一步处理。

5.根据权利要求1所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，所述获取控制位的步骤还包括获取与所述多个测试设备中的一个测试设备进行的一系列测试的测试结果相关联的中毒位，并且所述判断步骤还包括如果所述中毒位被设置为预定值，则禁止对所述电子装置进行下一步处理。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，与所述多个测试设备对所述电子装置进行测试的测试结果相关联的控制位被存储在所述电子装置内的存储装置中。

7.根据权利要求6所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，所述方法还包括：

从所述电子装置获取所述电子装置中存储的所述电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数或由于一个或多个故障陷入停滞或重启状态的次数总和；

根据所述电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数或由于一个或多个故障陷入停滞或重启状态的次数总和，判断是否禁止对所述电子装置进行下一步处理。

8.根据权利要求7所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，当所述电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数超过第一预定次数或所述电子装置由于一个或多个故障陷入停滞或重启状态的次数总和超过第二预定次数时，禁止对所述电子装置进行下一步处理。

9.根据权利要求7所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，在获取所述电子装置由于特定故障陷入停滞或重启状态的次数的同时，获取与所述特定故障相关联的故障位置信息以及所述电子装置由于所述特定故障上一次陷入停滞或重启状态的时间信息。

10.根据权利要求6所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，所述方法还包括：

从所述电子装置获取所述电子装置中存储的在处理过程中对所述电子装置的一个或多个部件进行校准的一个或多个调整量；

根据在处理过程中对所述电子装置的一个或多个部件进行校准的一个或多个调整量，判断是否禁止对所述电子装置进行下一步处理。

11.根据权利要求10所述的用于对电子装置的处理过程进行控制的方法，其特征在于，当所述一个或多个调整量中的至少一个超出预定的调整范围时，禁止对所述电子装置进行下一步处理。