[发明专利]光盘非对称性的测试装置和方法无效

专利信息
申请号: 201010148107.2 申请日: 2010-04-15
公开(公告)号: CN101819787A 公开(公告)日: 2010-09-01
发明(设计)人: 王国华;阮昊;李曹建 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G11B7/095 分类号: G11B7/095
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 光盘 对称性 测试 装置 方法
【权利要求书】:

1.一种光盘非对称性的测试装置,特征在于该装置由RF信号读出系统(1)、均衡器(2)、比较电平发生器(3)、第一比较器(4)、高通滤波器(5)、上半波提取器(6)、下半波提取器(7)、峰值保持器(8)、谷值保持器(9)、反向器(10)、第一峰值探测器(11)、第一谷值探测器(12)、第二谷值探测器(13)、第二峰值探测器(14)和数据处理系统(15)构成,上述元部件的位置关系如下:

①所述的RF信号读出系统(1)的输出端与所述的均衡器(2)的输入端相连,该均衡器(2)有六个输出端,分别连接所述的比较电平发生器(3)的输入端、高通滤波器(5)的输入端、上半波提取器(6)的第一输入端、下半波提取器(7)的第一输入端、第一峰值探测器(11)的输入端和第一谷值探测器(12)的输入端;所述的比较电平发生器(3)的构成是:从输入到输出包括依次连接的第二高通滤波器(17)、第二比较器(18)、积分器(19)和比较电平调整器(20),所述比较电平调整器(20)的输出反馈端连接所述第二比较器(18)的第二输入端,所述比较电平调整器(20)稳定后的输出即是所述的比较电平发生器(3)的输出;

②所述的高通滤波器(5)的输出端接所述第一比较器(4)的第二输入端;

③所述的第一比较器(4)的第一输入端与所述的比较电平发生器(3)的输出端相连,该第一比较器(4)有四个输出端,分别与所述的上半波提取器(6)的第二个输入端、所述的下半波提取器(7)的第二个输入端、所述的峰值保持器(8)的第二输入端、所述反向器(10)的输入端相连;

④所述的反向器(10)的输出端接所述的谷值保持器(9)的第二输入端;

⑤所述上半波提取器(6)的输出端接所述的峰值保持器(8)的第一输入端,该峰值保持器(8)的输出端接所述第二谷值探测器(13)的输入端;

⑥所述下半波提取器(7)的输出端接所述的谷值保持器(9)的第一输入端,该谷值保持器(9)的输出端接所述第二峰值探测器(14)的输入端;

⑦所述第一峰值探测器(11)、第一谷值探测器(12)、第二谷值探测器(13)和第二峰值探测器(14)的输出端都连接所述的数据处理系统(15)。

2.根据权利要求1所述的光盘非对称性的测试装置,其特征在于所述的RF信号读出系统(1)由市场上普通的商用光驱构成。

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